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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种发光器件阵列图像的矫正方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121190484B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511735013.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种发光器件阵列图像的矫正方法、装置及存储介质是由崔乔乔;杨硕设计研发完成，并于2025-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种发光器件阵列图像的矫正方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种发光器件阵列图像的矫正方法、装置及存储介质，用于将不规则的发光器件阵列转换为拥有固定重复周期的阵列图以便于缺陷检测，提高缺陷检测效率。本申请包括：获取对目标屏幕拍摄的芯片阵列图，并获取目标屏幕中芯片的坐标位置和芯片的行列数；根据芯片的坐标位置，构建芯片坐标矩阵；根据芯片的坐标位置和预设的芯片尺寸参数，计算得到芯片之间的行列间距；根据预设的芯片尺寸参数、芯片的行列数以及芯片之间的行列间距，构建理论点阵坐标；将芯片坐标矩阵划分为第一区域坐标组；根据理论点阵坐标和第一区域坐标组，分区域计算得到区域变换矩阵；根据区域变换矩阵，对第一区域坐标组进行处理，得到矫正图像。

本发明授权一种发光器件阵列图像的矫正方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种发光器件阵列图像的矫正方法，其特征在于，包括： 获取对目标屏幕拍摄的芯片阵列图，并根据所述芯片阵列图获取所述目标屏幕中若干个芯片的坐标位置和所述芯片的行列数； 根据若干个所述芯片的坐标位置，构建芯片坐标矩阵； 根据若干个所述芯片的坐标位置和预设的芯片尺寸参数，计算得到芯片之间的行列间距； 根据预设的芯片尺寸参数、所述芯片的行列数以及所述芯片之间的行列间距，构建理论点阵坐标； 将所述芯片坐标矩阵划分为若干个第一区域坐标组，所述第一区域坐标组为相邻两行两列的四个坐标的集合； 根据所述理论点阵坐标和若干个所述第一区域坐标组，分区域计算得到若干个区域变换矩阵； 根据所述区域变换矩阵，对所述第一区域坐标组进行处理，得到矫正图像； 根据所述芯片尺寸参数，消除所述矫正图像内所述芯片间的间隙，并生成第二理论坐标矩阵和第一无间隙矫正图； 根据所述第二理论坐标矩阵，提取所述第一无间隙矫正图中所述芯片的坐标位置的芯片灰度值； 设置一张零灰度图像，并将所述芯片灰度值填充进所述零灰度图像的对应位置，生成最终的第二无间隙矫正图，所述零灰度图像为尺寸与所述第一无间隙矫正图相同且灰度值全为0的图像。

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