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龙图腾网获悉深圳市优界科技有限公司申请的专利一种半导体器件用图像识别挑补料复检机台及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121244574B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511835157.0，技术领域涉及：B07C5/34；该发明授权一种半导体器件用图像识别挑补料复检机台及方法是由卢国强;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-12-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体器件用图像识别挑补料复检机台及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种半导体器件用图像识别挑补料复检机台及方法，包括工作平台、输送机构、激光装置、n个图像识别装置和夹手装置。其方法为首先利用激光装置对输送机构上的半导体器件进行测距得到距离H，然后根据H选择图像识别装置，通过图像识别装置对半导体器件进行飞拍获得图像，判断NG和OK半导体器件，如不存在NG半导体器件，则输送到下一道工位，如存在NG半导体器件，则从挑补料区域置换OK半导体器件，然后进行飞拍复检，最后进入到下一道工位，本发明，检测的效率高，检测的质量高，且能保证进入到下一道工位中的料盘内的半导体器件的良品率。

本发明授权一种半导体器件用图像识别挑补料复检机台及方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件用图像识别挑补料复检方法，其特征在于包括如下步骤： S1输送机构接收装载有半导体器件的料盘； S2输送机构对装载有半导体器件的料盘进行输送，同时利用激光装置测量半导体器件顶面到激光装置之间的高度H； S3根据n个图像识别装置的当前位置和n个图像识别装置中图像识别装置能获得半导体器件上表面清晰图像的距离H0以及距离H确定第m个图像识别装置，其中，第m个图像识别装置为能获得半导体器件上表面清晰图像所要移动的最小距离的图像识别装置，调整第m个图像识别装置的焦距；其中，n为大于等于2的整数，m为大于等于1的整数； S4输送机构将装载有半导体器件的料盘输送到第m个图像识别装置的位置，然后，通过第m个图像识别装置对半导体器件进行飞拍形成图像； S5通过图像判断装载有半导体器件的料盘中是否存在NG半导体器件；如不存在NG半导体器件，则通过夹手装置将装载有半导体器件的料盘转移到下一道工位；如存在NG半导体器件，则进行S6-S8； S6确定NG半导体器件在料盘中的数量i和位置ai，夹手装置根据数量i和位置ai依次将NG半导体器件转移到NG区域的NG料盘中；夹手装置将OK区域中OK料盘内的OK半导体器件对应填补到被取走NG半导体器件的位置中； S7输送机构将填补了OK半导体器件的料盘输送到第m个图像识别装置的位置进行飞拍复检； S8飞拍复检合格后通过输送机构输送并利用夹手装置将经过飞拍复检的装载有半导体器件的料盘转移到下一道工位；如果n个图像识别装置移动的距离均相同，则选择与激光装置距离最短的图像识别装置作为第m个图像识别装置，如果n个图像识别装置移动的距离均相同且与激光装置在X轴方向的距离也相同，则选择料盘输送方向的前方一个图像识别装置作为第m个图像识别装置；激光装置首先扫描在Y轴方向上位于一侧的一排半导体器件，然后，通过输送机构的往返运动以及激光装置在Y轴方向上的运动以Z字形轨迹或S形轨迹依次对在X轴方向上的每一排半导体器件进行扫描。

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