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龙图腾网获悉雷特尔电气有限公司申请的专利一种环网柜密封件老化识别方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121438283B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511958835.2，技术领域涉及：G06V20/60；该发明授权一种环网柜密封件老化识别方法及系统是由何小荣;鲁晓东;朱建丰设计研发完成，并于2025-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种环网柜密封件老化识别方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及视觉检测技术领域，尤其涉及一种环网柜密封件老化识别方法及系统，方法包括：构建表面图像中的任意像素点局部窗口内的梯度偏离度；计算预设方向上像素点的偏度特征值差异，结合梯度偏离度计算裂纹显著度；构建与裂纹显著度成负相关的局部惩罚因子；将局部惩罚因子代替低秩稀疏分解算法中的全局惩罚因子，使用低秩稀疏分解算法对表面图像进行分解得到稀疏矩阵，根据所述稀疏矩阵中非零元素数量的占比，判断密封件的老化状态。通过本申请的技术方案能够提高低秩稀疏分解算法对密封件进行老化识别的效率。

本发明授权一种环网柜密封件老化识别方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种环网柜密封件老化识别方法，其特征在于，识别方法包括： 构建表面图像中任意像素点的局部窗口，以计算各像素点的梯度偏离度； 计算像素点在预设方向上的邻域像素点的梯度偏离度的均值作为预设方向的偏度特征值，根据各预设方向上的偏度特征值的差异计算像素点的梯度偏离度差异，将梯度偏离度差异和梯度偏离度的乘积作为像素点的裂纹显著度； 构建像素点的局部惩罚因子，局部惩罚因子与裂纹显著度成负相关，与表面图像中各像素点裂纹显著度的均值成负相关； 将局部惩罚因子代替低秩稀疏分解算法中的全局惩罚因子，使表面图像中的不同像素点对应不同的局部惩罚因子，使用低秩稀疏分解算法对表面图像进行分解得到稀疏矩阵，计算稀疏矩阵中非零元素数量的占比，将占比分别与第一阈值和第二阈值进行比较，判断密封件的老化状态； 梯度偏离度的计算方法为：，表示像素点的梯度偏离度，表示局部窗口内像素点的数量，表示局部窗口内第个像素点的梯度幅值，表示局部窗口内所有像素点梯度幅值的均值，表示以自然常数为底的对数函数，表示预设超参数； 判断密封件的老化状态包括：计算稀疏矩阵中非零元素的数量占表面图像中像素点总数的比值，作为老化比值；若老化比值大于第一阈值，判定环网柜密封件为严重老化状态；若老化比值大于第二阈值小于等于第一阈值，判定环网柜密封件为轻微老化状态；若老化比值小于等于第二阈值，则环网柜密封件为正常状态；第一阈值和第二阈值取值为3%和1%。

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