中国科学技术大学刘昭昕获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利一种电子点缺陷的探测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121476209B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610024019.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种电子点缺陷的探测方法是由刘昭昕;季文韬;郭宇航;王亚;杜江峰设计研发完成，并于2026-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电子点缺陷的探测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电子点缺陷的探测方法，涉及量子技术领域。该电子点缺陷的探测方法包括：控制第一电离光的波长在波长范围内变化并照射待测固体的多个子区域的任一子区域，确定与子区域对应的荧光探针点缺陷的电离谱；在根据电离谱确定子区域内存在电子点缺陷的情况下，迭代地执行如下操作，直至更改后的电离谱满足预设条件，并根据满足预设条件的电离谱确定子区域的电子点缺陷的种类：根据电离谱确定阈值波长，阈值波长表征使子区域内所有电子点缺陷电离的临界波长；更改第一电离光的波长范围、功率和照射时长，并利用更改后的第一电离光重新照射子区域，得到更改后的电离谱；其中，更改后的波长范围是根据阈值波长确定的。
本发明授权一种电子点缺陷的探测方法在权利要求书中公布了：1.一种电子点缺陷的探测方法，其特征在于，包括： 控制第一电离光的波长在波长范围内变化并照射待测样品的多个子区域的任一子区域，确定与所述子区域对应的荧光探针点缺陷的电离谱；其中，所述电离谱表征所述荧光探针点缺陷所处的局域电场在所述第一电离光照射后产生的跳变幅度随波长的变化； 在根据所述电离谱确定所述子区域内存在电子点缺陷的情况下，迭代地执行如下操作，直至更改后的电离谱满足预设条件，并根据满足预设条件的电离谱确定所述子区域的电子点缺陷的种类；所述预设条件为根据更改后电离谱中的跳变幅度不为0的特征波长得到的能级信息位于预设能级信息集合内： 根据所述电离谱确定阈值波长，所述阈值波长表征使所述子区域内所有电子点缺陷电离的临界波长； 更改所述第一电离光的波长范围、功率和照射时长，并利用更改后的第一电离光重新照射所述子区域，得到更改后的电离谱；其中，更改后的波长范围是根据所述阈值波长确定的。
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