成都天衡智造科技有限公司张仕福获国家专利权
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龙图腾网获悉成都天衡智造科技有限公司申请的专利一种多工位视觉引导的自动上下料方法及控制系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121568552B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610091140.7，技术领域涉及：H10P72/50；该发明授权一种多工位视觉引导的自动上下料方法及控制系统是由张仕福设计研发完成，并于2026-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多工位视觉引导的自动上下料方法及控制系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多工位视觉引导的自动上下料方法及控制系统，属于半导体制造与测试领域，通过顶部工位初筛定位、正面工位精确定位与偏差计算、反面工位独立复核、测试座工位目标确认的多阶段视觉引导流程，结合高精度运动控制，实现芯片从抓取到放置的全过程实时补偿与校正，实现了±0.1mm的重复定位精度，避免了芯片与测试Socket的损伤，并可通过参数配置实现快速换型与全过程数据溯源，显著提升测试良率、设备可靠性与综合效率。
本发明授权一种多工位视觉引导的自动上下料方法及控制系统在权利要求书中公布了：1.一种多工位视觉引导的自动上下料方法，其特征在于，包括以下步骤： 将芯片移送至顶部工位，采集芯片的顶部图像，根据顶部图像进行正反面判断与筛选，并对筛选出的正面朝上芯片进行初步定位； 控制执行机构根据初步定位结果拾取芯片，并将芯片移送至正面工位，采集芯片的正面图像，根据正面图像计算芯片的第一当前位置，并计算第一当前位置与标准位置之间的第一位置偏差；和或，根据正面图像计算芯片的第一当前角度，并计算第一当前角度与标准角度之间的第一角度偏差； 将芯片移送至反面工位，采集芯片的反面图像，根据反面图像独立计算芯片的第二当前位置和或第二当前角度，并将第一当前位置与第二当前位置进行交叉验证，和或将第一当前角度与第二当前角度进行交叉验证，生成复核结果； 采集测试座图像，基于测试座图像进行测试座残留芯片检测，并计算测试座的当前位置； 根据第一偏差结果、复核结果以及测试座的当前位置，控制执行机构对芯片的放置位置和或角度进行补偿校正，并将芯片放入测试座；第一偏差结果包括第一位置偏差和或第一角度偏差。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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