中国科学院长春光学精密机械与物理研究所闫万红获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利ICP-OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121577246B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610108983.3，技术领域涉及：G01M3/04；该发明授权ICP-OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法是由闫万红;马天奇;陶琛;何玲平设计研发完成，并于2026-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本ICP-OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及气密性检测领域，具体涉及一种ICP‑OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法，包括在ICP‑OES系统点燃等离子体炬焰且无样品进样的载气稳定阶段，控制DMD微镜阵列在全开状态与全关状态之间切换；分别记录MCP单光子计数探测器在DMD微镜阵列处于在两种状态下的光子计数值，将两种状态下的光子计数值的差值作为有效光通量基准；周期性测量光子数差值，并根据光子数差值计算衰减率，当衰减率超过预设阈值时，判定接口气密性异常。本发明解决现有技术离线、定性、滞后的痛点，保障ICP‑OES系统的检测精度与运行稳定性，降低运行成本。
本发明授权ICP-OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法在权利要求书中公布了：1.一种ICP-OES系统中探测器接口的气密性原位检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：在ICP-OES系统点燃等离子体炬焰且无样品进样的载气稳定阶段，控制DMD微镜阵列在全开状态与全关状态之间切换； S2：分别记录MCP单光子计数探测器在DMD微镜阵列处于全开状态下采集到的光子计数Nopen以及在DMD微镜阵列处于全关状态下采集到的暗计数Nclose，将光子计数Nopen与暗计数Nclose的光子数差值ΔN作为有效光通量基准； S3：周期性测量光子数差值ΔN，并根据光子数差值ΔN计算衰减率η，当衰减率η超过预设阈值时，判定DMD-MCP紫外成像探测器的接口气密性异常；其中，衰减率η的计算公式为η=ΔN0-ΔNtΔN0×100%，ΔN0表示初始基准光子数差值，ΔNt表示第t次监测得到的光子数差值。
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