无锡富耘德半导体科技有限公司麻建国获国家专利权
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龙图腾网获悉无锡富耘德半导体科技有限公司申请的专利一种半导体器件用外观缺陷检测装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224035284U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423089061.8，技术领域涉及：G01N21/95；该实用新型一种半导体器件用外观缺陷检测装置是由麻建国设计研发完成，并于2024-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体器件用外观缺陷检测装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种半导体器件用外观缺陷检测装置，包括底板，所述底板的底面固定连接有一组支撑腿，每个所述支撑腿的底端均固定连接有支撑座。该半导体器件用外观缺陷检测装置，通过底板、支撑腿、支撑座、连接板以及检测组件的配合设置，转动转杆，随后检测仪本体开始对半导体进行检测，检测的画面会显示在显示器的上面，然后启动电动推杆，电动推杆输出端带动弧形垫移动，从而弧形垫能够实现对半导体外表面的夹持，随后启动液压油缸，将液压油缸进行收缩，此时启动电机，电机带动第二齿轮转动，利用第二齿轮与第一齿轮之间的啮合，能够实现对弧形垫的转动，从而实现了对半导体全面的检测，能够保证检测的结果一致，不会影响后续使用。
本实用新型一种半导体器件用外观缺陷检测装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件用外观缺陷检测装置，包括底板1，其特征在于：所述底板1的底面固定连接有一组支撑腿2，每个所述支撑腿2的底端均固定连接有支撑座3，所述底板1的上表面固定连接有连接板4，所述连接板4与底板1之间安装有检测组件5，所述检测组件5包括圆板502，所述圆板502转动连接于连接板4的外表面，所述圆板502的顶端固定连接有转杆501，所述圆板502的底端固定连接有检测仪本体503。
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