中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所何晋平获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所申请的专利一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115979422B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310113989.6，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法是由何晋平;赵振宁设计研发完成，并于2023-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法，该装置包括光电探测器、引光系统、光波导、随机缺陷散射结构、衬底。所述缺陷散射结构为在光波导表面带有大小和位置随机量的凹陷。本发明的技术方案通过在光波导表面引入随机缺陷获得散射光来重建目标光谱，相对传统的商用光谱仪具有器件少，空间光路紧凑，体积小的优点，其有效降低了光谱仪的系统复杂度和成本，提高了光谱仪的便携性；该结构在使用计算重构的方法来重建光谱时能够很好的复现入射光谱，并且具有大的带宽和较高的光谱分辨率。
本发明授权一种缺陷散射计算重构光谱探测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种缺陷散射计算重构光谱探测装置，其特征在于：包括光电探测器、引光系统和光波导，所述光波导为多模波导，其表面刻蚀有随机缺陷散射结构，其余部分均为包层，所述缺陷散射结构为在基本阵列的基础上对每个缺陷散射单元的横纵位置以及大小加载一个随机量而成，所述引光系统的一端与光源相连，所述引光系统的另一端与光波导相连，所述光电探测器设置于光波导之上，收集从光波导侧面散射而出的光信号，用于采集从光波导上的随机缺陷散射结构中散射出的光斑；光在多模波导中进行干涉，然后从随机缺陷散射结构散射，缺陷散射单元进一步影响光波导中的光的传播，进而在多模波导后续范围的散射光斑中显示出灵敏的光谱响应，散射出的光斑由光电探测器接收，在对器件进行标定之后，即可使用未知光产生的光斑通过重构算法来获得未知光的光谱。
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