上海济物光电技术有限公司李博翰获国家专利权
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龙图腾网获悉上海济物光电技术有限公司申请的专利一种红外线列探测器非均匀性矫正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116152096B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310077312.1，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权一种红外线列探测器非均匀性矫正方法是由李博翰设计研发完成，并于2023-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种红外线列探测器非均匀性矫正方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种红外线列探测器非均匀性矫正方法及装置，所述方法包括：从原始红外线列周扫图像中截取部分红外线列周扫图像；利用引导滤波模型对选取的红外线列周扫图像进行去噪；利用基于引导滤波的线性拟合模型，计算线性矫正系数；利用得到的线性矫正系数，对整帧红外线列周扫图像进行非均匀性矫正。本发明红外线列探测器非均匀性矫正方法实时性高、去噪效果好。
本发明授权一种红外线列探测器非均匀性矫正方法在权利要求书中公布了：1.一种红外线列探测器非均匀性矫正方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 从原始红外线列周扫图像中截取部分红外线列周扫图像； 利用引导滤波模型对选取的红外线列周扫图像进行去噪； 利用基于引导滤波的线性拟合模型，计算线性矫正系数，所述线性矫正系数、，计算公式为： ； ； 式中：W是引导滤波去噪处理后的线列周扫图像的图像宽，是经过引导滤波去噪处理后的去噪图像，是对应的含有条纹噪声未经处理的原始红外线列周扫图像； 利用得到的线性矫正系数，对整帧红外线列周扫图像进行非均匀性矫正。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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