北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所李金月获国家专利权
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龙图腾网获悉北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所申请的专利一种二极管外观检验治具及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116242844B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310179984.3，技术领域涉及：G01N21/958；该发明授权一种二极管外观检验治具及检测方法是由李金月;郝贵争;戴晨毅;冯小成;王潮洋;郝梓淋设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种二极管外观检验治具及检测方法在说明书摘要公布了：一种电子器件外观检验治具及其检验方法，多层翻转复合结构1可拆卸安装在所述万向移动平台2上，多层翻转复合结构1包括至少二层翻转板；每层翻转板包括滑动限位区和放置功能区，放置能区设置网孔矩阵，所述网孔边缘铣圆角；上层翻转板的网孔矩阵的网孔覆盖下层翻转板网孔矩阵的非网孔区域；滑动限位区位于所述翻转板的四个角区域；滑动限位区设置滑动限位机构；两层翻转板利用所述滑动限位机构相互配合层叠安装，两层翻转板通过所述滑动限位机构进行水平滑动，使得上层翻转板网孔矩阵的网孔与下层翻转板对应网孔矩阵的网孔重合；万向移动平台2的底部安装万向滑轮23。本发明可一次针对多只二极管进行外观检验。
本发明授权一种二极管外观检验治具及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种电子器件外观检验治具，其特征在于，包括：多层翻转复合结构1和万向移动平台2；其中， 所述多层翻转复合结构1可拆卸的安装在所述万向移动平台2上，所述多层翻转复合结构1包括至少二层翻转板； 所述翻转板包括滑动限位区12和放置功能区11，所述放置功能区11位于所述翻转板的中央区域，所述放置功能区11具有网孔矩阵，所述网孔为方形通孔，网孔边缘铣圆角；上层翻转板网孔矩阵的网孔覆盖下层翻转板网孔矩阵的非网孔区域； 所述滑动限位区12位于所述翻转板的四个角区域；所述滑动限位区设置滑动限位机构12；两层翻转板利用所述滑动限位机构相互配合层叠安装，两层翻转板通过所述滑动限位机构进行水平滑动，使得上层翻转板网孔矩阵的网孔与下层翻转板对应网孔矩阵的网孔重合； 所述万向移动平台2的底部安装万向轮23； 所述电子器件为具有圆柱形玻璃曲面、两端具有多边形端子的表贴二极管。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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