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龙图腾网获悉钢铁研究总院有限公司申请的专利波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116413297B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211564777.1，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质是由胡学强;刘明博;袁良经;刘鑫宇;倪子月设计研发完成，并于2022-12-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质，方法基于波长色散X荧光光谱仪，获取实验样品的晶体支架理论转动角度和探测器支架理论转动角度；对实验样品进行双扫描，使第一探测器接收分光后的X射线，得到实验样品的晶体支架实际转动角度和探测器支架第一实际转动角度；根据晶体支架理论转动角度和晶体支架实际转动角度即可得到晶体支架实际初始角，结合晶体支架理论初始角，可得到晶体支架偏移角；根据探测器支架理论转动角度和探测器支架第一实际转动角度即可得到探测器支架实际初始角，结合探测器支架理论初始角，可得到探测器支架偏移角。本申请具有对晶体和探测器的角度进行校正，提高光谱仪的精密度的效果。

本发明授权波长色散X荧光光谱仪调试方法、系统、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种波长色散X荧光光谱仪调试方法，其特征在于，所述波长色散X荧光光谱仪包括测角仪1、驱动模块、两个探测器2、探测器支架3和晶体支架4，所述探测器支架3和所述晶体支架4安装于所述测角仪1，两个所述探测器2包括第一探测器21和第二探测器22，所述第一探测器21和所述第二探测器22固定于所述探测器支架3上，且呈夹角设置；所述驱动模块驱动所述晶体支架4和所述探测器支架3转动，使所述晶体支架4上的分光晶体分光后的X射线射至所述第一探测器21或所述第二探测器22；所述波长色散X荧光光谱仪调试方法包括以下步骤： 获取实验样品对应的理论角度：获取实验样品的晶体支架4理论转动角度θ理和探测器支架3理论转动角度Dθ理； 获取实验样品对应的实际转动角度：向驱动模块发送复位信号，所述驱动模块响应所述复位信号，分别控制所述晶体支架4和所述探测器支架3转动至初始位置，所述晶体支架4和所述探测器支架3转动至初始位置时，向所述驱动模块发送扫描信号，所述驱动模块响应所述扫描信号，分别控制所述晶体支架4和所述探测器支架3转动，对所述实验样品进行θ-2θ双扫描，以使所述第一探测器21接收分光后的X射线，得到与所述实验样品最大荧光强度对应的晶体支架4实际转动角度θ实转和探测器支架3第一实际转动角度Dθ实转1；以及， 计算测角仪1的偏移角：所述晶体支架4实际初始角θ实初=θ理-θ实转，则所述晶体支架4偏移角θ偏=θ理-θ实转-θ理初；其中，θ理初为晶体支架4理论初始角；所述探测器支架3实际初始角Dθ实初=Dθ理-Dθ实转1，则所述探测器支架3偏移角Dθ偏=Dθ理-Dθ实转1-Dθ理初；其中，Dθ理初为探测器支架3理论初始角。

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