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龙图腾网获悉广州全盛威信息技术有限公司;北京奕斯伟计算技术股份有限公司申请的专利芯片测试分析电路及芯片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116609639B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310613715.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试分析电路及芯片是由张学海设计研发完成，并于2023-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试分析电路及芯片在说明书摘要公布了：本公开提供一种芯片测试分析电路，包括：地址译码电路，用于产生第一测试选择信号，以及用于产生第二测试选择信号；输出测试电路，用于根据第一测试选择信号，从多个待输出测试信号中选择对应的待输出测试信号，将选择的待输出测试信号输出至测试节点进行输出信号测试分析；输入测试电路，用于根据第二测试选择信号，从多个输入测试通道中选择与第二测试选择信号对应的输入测试通道，以通过选择的输入测试通道将待输入测试信号输入至待测试芯片内部相应的电路进行内部电路测试分析；测试方向选择电路，用于产生测试方式选择信号，测试方式选择信号用于控制输出测试电路与测试节点之间连通或断开，以及控制输入测试电路与测试节点之间断开或连通。

本发明授权芯片测试分析电路及芯片在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试分析电路，其特征在于，所述芯片测试分析电路包括： 地址译码电路，用于产生第一测试选择信号，每个第一测试选择信号对应用于选择待测试芯片的一个输出测试通道，每个输出测试通道用于输出待测试芯片内部产生的一个待输出测试信号； 所述地址译码电路，还用于产生第二测试选择信号，每个第二测试选择信号对应用于选择待测试芯片的一个输入测试通道，每个输入测试通道用于将待输入测试信号输入待测试芯片内部相应的电路； 输出测试电路，所述输出测试电路的输入为待测试芯片内部产生的多个待输出测试信号，所述输出测试电路用于根据所述地址译码电路提供的第一测试选择信号，从所述多个待输出测试信号中选择与所述第一测试选择信号对应的待输出测试信号，并将选择的待输出测试信号输出至测试节点进行输出信号测试分析； 输入测试电路，所述输入测试电路的输入为待测试芯片提供的待输入测试信号，所述输入测试电路用于根据所述地址译码电路提供的第二测试选择信号，从多个输入测试通道中选择与所述第二测试选择信号对应的输入测试通道，以通过选择的输入测试通道将所述待输入测试信号输入至待测试芯片内部相应的电路进行内部电路测试分析； 测试方向选择电路，用于产生测试方式选择信号，所述测试方式选择信号用于控制所述输出测试电路与所述测试节点之间连通或断开，以及控制所述输入测试电路与所述测试节点之间断开或连通。

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