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龙图腾网获悉珠海横琴美加澳光电技术有限公司申请的专利一种光谱仪、光谱检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117268541B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210665851.2，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种光谱仪、光谱检测方法是由孙保福;宋素霜设计研发完成，并于2022-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光谱仪、光谱检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光谱仪，包括沿光轴依次设有入射光、准直透镜组、柱面透镜阵列、F‑P平板、光栅、聚焦透镜组、光信号处理组件；所述准直透镜组、柱面透镜阵列、F‑P平板、光栅、聚焦透镜组及光信号处理组件同轴等高设置，所述柱面透镜阵列与F‑P平板平行设置且往一侧倾斜以使得柱面透镜阵列焦线聚焦于F‑P平板入射面上，所述F‑P平板入射面上设有狭缝阵列，所述狭缝阵列包括设在F‑P平板入射面上且沿Y轴方向等距的多个入射狭缝，所述F‑P平板入射面上渡有高反膜、出射面上渡有反射膜，具有够降低入射损耗，增大光强，提高探测信号强度，增大灵敏度检测以提高检测精度的优点；本发明还公开了一种光谱检测方法，能够提高探测信号强度和增大灵敏度检测的优点。

本发明授权一种光谱仪、光谱检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光谱仪，其特征在于包括沿光轴依次设有： 入射光1、准直透镜组2、柱面透镜阵列3、F-P平板4、光栅6、聚焦透镜组7、光信号处理组件8； 所述准直透镜组2、柱面透镜阵列3、F-P平板4、光栅6、聚焦透镜组7及光信号处理组件8同轴等高设置，所述柱面透镜阵列3与F-P平板4平行设置且往一侧倾斜以使得柱面透镜阵列3焦线聚焦于F-P平板4入射面上，所述F-P平板4入射面上设有狭缝阵列5，所述狭缝阵列5包括设在F-P平板4入射面上且沿Y轴方向等距的多个入射狭缝，所述F-P平板4入射面上渡有高反膜、出射面上渡有反射膜； 所述入射光1用于提供及发射入射光束； 所述准直透镜组2用于将入射光1入射出的光束准直为平行光束9而射向柱面透镜阵列3中的每一柱面透镜上； 所述柱面透镜阵列3中的每一柱面透镜用于将准直透镜组2所射出的平行光束9聚焦为细线形光束10而射向F-P平板4上对应的入射狭缝上； 所述F-P平板4用于将柱面透镜阵列3所射出的细线形光束10在Y轴方向上按级次以角度条纹分开，且所述F-P平板4用于使进入F-P平板4的细线形光束10进行多次反射出射后形成多光束干涉、进而产生级次条纹的横向条纹光束11，所述横向条纹光束11以不同波长按角度射向光栅6上，且横向条纹光束11中的每条亮条纹都存在着不同波长的光的不同级次的重叠； 所述光栅6用于将存在X轴方向重叠的横向条纹光束11在X轴方向上进行色散，且不同波长的横向条纹光束11会因光栅6色散而在X轴方向上处于不同位置而形成二维色散光束12以射向聚焦透镜组7上； 所述聚焦透镜组7用于将所述光栅6所射出的二维色散光束12聚焦到光信号处理组件8上； 所述光信号处理组件8用于接收及处理所述聚焦透镜组7聚焦成像的光谱图形或光谱信号。

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