中国计量科学研究院王松获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利一种基于HR-ICP-MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119881066B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510049826.5,技术领域涉及:G01N27/626;该发明授权一种基于HR-ICP-MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法是由王松;程嘉贤;张登绅;高天恒;任同祥;王军设计研发完成,并于2025-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于HR-ICP-MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种基于HR‑ICP‑MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法,属于元素检测技术领域。本发明提供的方法,仅需要消耗少量的浓缩同位素样品,特别适合浓缩同位素这类高价值待测物纯度的准确分析;本发明中通过元素混合溶液系列标准物质的使用,可以实现68种杂质元素的同时分析,显著优于现有技术中基于ICP‑MS方法的杂质分析方法;本发明利用改进的基体效应校正方法,通过待测基体下灵敏度因子的测量,实现了基体效应的校正;本发明设计了特殊的测样流程,通过外标法测量无基体的流程空白,通过基体匹配测量样品中的杂质含量,测量结果更加准确。
本发明授权一种基于HR-ICP-MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法在权利要求书中公布了:1.一种基于HR-ICP-MS测定浓缩同位素中杂质元素含量的方法,其特征在于,包括以下步骤: 1将待测浓缩同位素溶于溶剂后,得到待测样品,并分为等体积的样品1、样品2和样品3; 所述待测样品中基体为2%HNO3; 按照上述待测样品的配制过程,除不加待测浓缩同位素外,配制流程空白; 2使用元素混合溶液系列标准物质配制浓度分别为1μgkg、2μgkg、5μgkg和10μgkg的标准溶液,分别记为std1~4; 配制1mgkg的元素混合溶液标准物质作为加标母液,通过称量配制加标浓度分别为20μgkg和50μgkg的溶液,分别记为std5和std6; 所述步骤1和步骤2没有先后顺序之分; 3采用高分辨-电感耦合等离子体质谱仪对所述步骤1得到样品1、样品2、样品3和流程空白,以及所述步骤2得到的std1~6进行测量分析,得到相应工作曲线; 所述测量的先后顺序为:2%HNO3、std1、std2、std3、std4、2%HNO3、流程空白、样品1、样品2、样品3、std5、std6; 4根据所述步骤3测得的std1-4的工作曲线计算流程空白中的杂质元素含量; 利用所述步骤3中样品1~3实测的信号值,结合所述std5、6测得的工作曲线计算得到待测样品中的杂质元素含量; 所述流程空白中的杂质元素含量和所述待测样品中的杂质元素含量两者的差值除以所述待测样品中待测浓缩同位素的浓度,得到待测浓缩同位素中杂质元素的含量; 所述std1-4测得的工作曲线斜率为R1,而所述std5-6测量得到的工作曲线斜率为R2,定义基体抑制效率为。
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