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龙图腾网获悉中国工程物理研究院流体物理研究所申请的专利样本扫描式X射线多衬度成像的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936082B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510121659.0，技术领域涉及：G01N23/083；该发明授权样本扫描式X射线多衬度成像的方法和系统是由李晶;邓锴;张光亚;杨宇;袁建强;何小中;谢卫平设计研发完成，并于2025-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本样本扫描式X射线多衬度成像的方法和系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种样本扫描式X射线多衬度成像的方法和系统。样本扫描式X射线多衬度成像的方法包步骤：S1、调节X射线边缘照明成像装置中的样本掩膜和探测器掩膜位置、角度，使视场中沿样本扫描移动方向各个探测器单元对应的空场照明曲线中心位置出现差异；S2、获取视场中各个探测单元的空场照明曲线；S3、移动样本，探测器采集样本在各个位置的图像；S4、由样本经过时探测单元的取值与相应探测单元的空场照明曲线提取多衬度图像，其中，样本扫描式移动，经过视场中的多个探测单元，所经探测单元的取值因样本的吸收、折射和散射信号取值发生变化，通过样本引起的所经过的多个探测器单元的照明曲线上一个点的变化，实现样本扫描式X射线多衬度成像。

本发明授权样本扫描式X射线多衬度成像的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种样本扫描式X射线多衬度成像的方法，其中，所述方法应用于包括射线源、样本掩膜、样本台、探测器掩膜和探测器的X射线边缘照明成像装置实现，其中，射线源、样本掩膜、样本台、探测器掩膜、探测器设置在XOZ平面，并沿Z轴方向依次设置；射线源用于释放X射线，样本台用于放置待成像样品；X射线光轴沿Z轴方向，X射线经穿过样本掩膜，经样本台、探测器掩膜，设定X射线经过的视场中具有多个探测单元，经过探测器掩膜的X射线由探测器获得探测单元取值； 所述方法包括如下步骤： 步骤S1、调节X射线边缘照明成像装置中的样本掩膜和探测器掩膜位置、角度，使视场中沿样本扫描移动方向各个探测器单元对应的空场照明曲线的中心位置参数x0不同； 步骤S2、获取视场中各个探测单元的空场照明曲线； 步骤S3、移动样本，探测器采集样本在各个位置的图像； 步骤S4、由样本经过时探测单元的取值与相应探测单元的空场照明曲线提取多衬度图像， 其中，样本扫描式移动，经过视场中的多个探测单元，所经探测单元的取值因样本的吸收、折射和散射信号取值发生变化，通过样本引起的所经过的多个探测器单元的照明曲线上一个点的变化，实现样本扫描式X射线多衬度成像， 其中，步骤S1中，假设视场中为m*n的探测单元，移动样本掩膜和或探测器掩膜位置满足如下两个条件： 条件一、通过主动沿光轴方向移动样本掩膜和或探测器掩膜任一掩膜的位置，使得成像视场中，沿样本移动方向的一行探测单元的照明曲线满足： 其中，为采集照明曲线时移动的成像器件在扫描式成像时的位置，为相应探测单元照明曲线的中心位置，相应括号中i为沿垂直于样本移动的Y轴方向探测单元的序号，0为沿样本移动的X轴方向第一个探测单元，n为最后一个探测单元，为相应探测单元照明曲线的展宽； 条件二、通过主动沿样本移动方向移动样本掩膜和或探测器掩膜任一掩膜，使得成像视场中，沿样本移动方向的一行探测单元的照明曲线中心处满足： 其中，表示位于视场中心的探测单元序号， 其中，步骤S4中，通过多点多照明曲线优化方法，将样本的多衬度融入空场照明曲线中，以实际取值与假设结果的差异作为优化方向，从而提取多衬度图像；将样本的多衬度结果的假设值通过样本的吸收、折射和散射对X射线的影响，引入各个探测单元的背景照明曲线中，得到假设样本照明曲线，及相应的假设样本取值；以得到的假设样本取值与实际样本经过时各个探测单元取值的差异为优化方向，提取样本的多衬度图像， 其中，当探测单元的取值变化只与样本网格中的一个点相关时，则提取算法如下式所示： 其中，m、n表示样本待重建区域，yj为样本经过该探测单元时实际取值，wj为各个探测单元的权重因子；通过迭代提取方法，计算得到满足上式的样本多衬度取值。

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