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龙图腾网获悉盛林环境科技(天津)有限公司申请的专利基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120847011B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511003998.5，技术领域涉及：G01N21/33；该发明授权基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法是由张晓毅;庄宝军;朱幸运;王栋设计研发完成，并于2025-07-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法，属于水质监测技术领域，该方法包括：利用高氯酸盐对待测水样进行滴定，基于水样滴定前后紫外可见光差分光谱，进行预测；膜系统进水经过过滤器，并进行光谱全扫，得到紫外可见光参比光谱；水样进入滴定系统，滴加高氯酸盐溶液并混匀，进行光谱全扫，并对光谱进行体积浓度校正；将滴定前后样品的紫外可见光谱进行总有机碳归一化和差分，得到差分光谱，对差分光谱进行高斯分峰，得到高斯能带，根据能带比值确定水样中有机物亲疏水性和膜污染潜势。本发明解决了现有的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法预处理繁琐、分析程序复杂且耗时长以及难以满足大批量样品分析的问题。

本发明授权基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于差分光谱的有机物亲疏水性和膜污染潜势预测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、获取待测样品并过滤，将经过滤的待测样品放入样品池，选取预测水样并进行光谱全扫，得到预测水样的紫外可见光参比光谱，并利用滴定溶液对预测水样进行滴定，得到滴定水样； S2、按照预设波长范围，对滴定水样进行紫外可见光全扫，得到预测水样的紫外可见光滴定光谱并进行校正，得到校正后的紫外可见光滴定光谱； S3、对校正后的紫外可见光滴定光谱和预测水样的紫外可见光参比光谱进行标准化，并通过计算得到差分光谱； S4、将差分光谱进行总有机碳标准化，对经标准化的差分光谱进行高斯分峰，得到预设个数的高斯能带，通过计算高斯能带比值，建立标准曲线，并根据标准曲线计算得到有机物疏水组分占比和膜污染潜势，具体为： S401、将差分光谱进行总有机碳标准化，对经标准化的差分光谱进行高斯分峰，得到第一高斯能带、第二高斯能带、第三高斯能带、第四高斯能带以及第五高斯能带； S402、通过计算第四高斯能带与第二高斯能带的比值，得到差分光谱指标； S403、设置层析柱，并根据差分光谱指标建立标准曲线，具体为： S4031、对待测样品进行多次采样，得到采样水样，将采样水样经过预设滤膜，得到经过滤的采样水样； S4032、利用环己烷和甲醇对大孔吸附树脂进行活化，并利用超纯水对活化的大孔吸附树脂进行清洗，将经清洗的大孔吸附树脂填装至层析柱； S4033、利用蠕动泵，按照预设泵流速和上采样量，将经过滤的采样水样连续注入层析柱； S4034、响应于经过滤的采样水样连续注入层析柱，测定得到经过滤的采样水样注入层析柱后的总有机碳含量，并计算得到待测样品的有机物疏水组分占比； S4035、基于比污染率，通过计算得到比膜污染速率； S4036、根据差分光谱指标、待测样品的有机物疏水组分占比以及比膜污染速率，通过利用线性回归建立差分光谱指标与疏水组分占比和比膜污染速率的关系曲线，得到标准曲线； S404、根据标准曲线计算得到有机物疏水组分占比和膜污染潜势； 所述膜污染潜势测定采用比膜污染速率进行表示； 所述比污染率的计算表达式如下所示： 其中，表示比污染率，表示待测样品的总有机碳含量，表示污染速率，表示膜阻力变化，表示比渗透体积，表示过滤压力，表示渗透粘度，表示过滤通量。

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