达迩科技(成都)有限公司;上海凯虹科技电子有限公司;上海凯虹电子有限公司杨溢获国家专利权
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龙图腾网获悉达迩科技(成都)有限公司;上海凯虹科技电子有限公司;上海凯虹电子有限公司申请的专利测试系统及其关于老化后电参自动测试的测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN224081731U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520519890.0,技术领域涉及:G01R31/00;该实用新型测试系统及其关于老化后电参自动测试的测试装置是由杨溢;杨洁设计研发完成,并于2025-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试系统及其关于老化后电参自动测试的测试装置在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种测试系统及其关于老化后电参自动测试的测试装置,涉及电性参数测试技术领域,关于老化后电参自动测试的测试装置包括:矩阵控制盒,其包括多个用于与老化板上的产品对应连接的电路通道和控制器,各电路通道并联分布,且控制器与各电路通道连接,以控制各电路通道断开或闭合;控制装置,其设有用于与控制器连接、以控制各产品进行测试的测试软件。矩阵控制盒可依次测完老化板上所有产品的电性参数,仅需一次安装操作,即可自动完成整板产品的电性参数测试,获取各产品的电性参数,有效提高器件老化后的电性参数测试效率。
本实用新型测试系统及其关于老化后电参自动测试的测试装置在权利要求书中公布了:1.一种关于老化后电参自动测试的测试装置,其特征在于,包括: 矩阵控制盒3,其包括多个用于与老化板1上的产品2对应连接的电路通道31和控制器33,各所述电路通道31并联分布,且所述控制器33与各所述电路通道31连接,以控制各所述电路通道31断开或闭合; 控制装置5,其设有用于与所述控制器33连接、以控制各所述产品2进行测试的测试软件。
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