北京海瑞克科技发展有限公司梁光胜获国家专利权
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龙图腾网获悉北京海瑞克科技发展有限公司申请的专利一种MCU芯片测试实验装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224081765U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-03发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520725590.8，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种MCU芯片测试实验装置是由梁光胜;于跃;李铭浩设计研发完成，并于2025-04-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种MCU芯片测试实验装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种MCU芯片测试实验装置，涉及MCU芯片的测试实验领域，包括可更换MCU芯片测试电路、晶振电路、供电及开关电路、模拟电数字电切换电路、NRST测试电路、液晶控制电路、串口测试电路、I2C测试电路、ADC测试电路和GPIO特性测试电路，所述可更换MCU芯片测试电路的输出端与晶振电路、供电及开关电路、模拟电数字电切换电路、NRST测试电路、串口测试电路、I2C测试电路、ADC测试电路和GPIO特性测试电路的输入端电性连接。本实用新型所述的一种MCU芯片测试实验装置，测试功能全面，集成多种测试电路，能够实现对MCU芯片的全面测试，且适用范围广泛，可更换MCU芯片测试电路的设计使得该装置能够测试多种型号的MCU芯片。
本实用新型一种MCU芯片测试实验装置在权利要求书中公布了：1.一种MCU芯片测试实验装置，包括可更换MCU芯片测试电路1、晶振电路2、供电及开关电路3、模拟电数字电切换电路4、NRST测试电路5、液晶控制电路6、串口测试电路7、I2C测试电路8、ADC测试电路9和GPIO特性测试电路10，其特征在于：所述可更换MCU芯片测试电路1的输出端与晶振电路2、供电及开关电路3、模拟电数字电切换电路4、NRST测试电路5、串口测试电路7、I2C测试电路8、ADC测试电路9和GPIO特性测试电路10的输入端电性连接，所述液晶控制电路6的输出端与供电及开关电路3、模拟电数字电切换电路4和NRST测试电路5的输入端电性连接。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京海瑞克科技发展有限公司，其通讯地址为：100176 北京市大兴区经济技术开发区地盛北街1号院27号楼6层1单元601、602；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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