迈来芯科技有限公司H·范德布洛克获国家专利权
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龙图腾网获悉迈来芯科技有限公司申请的专利光学传感器诊断获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113494934B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110294967.5，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权光学传感器诊断是由H·范德布洛克设计研发完成，并于2021-03-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学传感器诊断在说明书摘要公布了：一种用于诊断光学传感器的方法100，该光学传感器包括光电探测器和积分器。该方法包括：将光电探测器暴露于110入射光；在初始帧处获得120初始积分信号；执行以下步骤至少一次：改变130光学传感器的至少一个控制参数，将光电探测器暴露于110入射光，并在后续帧处获得140一个或多个后续积分信号；从所获得的积分信号中获得150光学传感器的特性；将所获得的特性与光学传感器的预定特性进行比较160以诊断光学传感器。
本发明授权光学传感器诊断在权利要求书中公布了：1.一种用于诊断光学传感器的方法100，所述光学传感器包括光电探测器和积分器， 所述方法包括： 将所述光电探测器暴露于110入射光， 在初始帧处获得120初始积分信号， 执行以下步骤至少一次：改变130所述光学传感器的至少一个控制参数，将所述光电探测器暴露于110入射光，并在后续帧处获得140一个或多个后续积分信号， 其中，逐帧获得积分信号，并且帧包括重置所述光学传感器、并在积分时间内累积来自连接所述光电探测器与所述积分器的电路的信号、并且读取所述积分信号的至少一个序列， 从所获得的积分信号中获得150所述光学传感器的特性， 将所获得的特性与所述光学传感器的预定特性进行比较160，其中，所述预定特性是根据至少一个控制参数来定义的，以诊断所述光学传感器从而检测所述光学传感器中是否存在故障。
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