北京科技大学计鹏飞获国家专利权
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龙图腾网获悉北京科技大学申请的专利一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115931934B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211426720.5，技术领域涉及：G01N23/2005；该发明授权一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备及测试方法是由计鹏飞;张津;吴林阳;杨竞涵;郑林;窦世涛;陈新设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备及测试方法，属于残余应力检测领域。本发明制备的衍射用粉末标样具有形状保持能力，能够满足衍射法无损测定内部残余应力时透射衍射光路的需要；粉末经粘合剂粘接后为块状固体形态，并且可根据不同衍射射线源对不同被测基体材料的穿透深度制备成不同尺寸的标样，同时还可以调整粉末和粘合剂的比例来获得不同的衍射体积比。通过平动和旋转自由度方向上衍射峰值强度分布均匀性的测试，可以判定标样内部晶格分布和取向的均匀性，从而对标样的均匀性进行测试和判定。
本发明授权一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测定内部残余应力用粉末衍射标样的制备方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：对粉末进行筛选和前处理； S2：在模具中将粉末与粘合剂以一定的比例混合； S3：消除物料混合时的气泡，固化脱模； S4：对标样进行整形切割，表面进行打磨和去应力处理，封装保存； 步骤S1所述的筛选是：用于衍射法测定内部残余应力的粉末标样制备的粉末，应满足晶粒度不小于25μm，颗粒直径为20~60μm，粉末形态为球形；所述的前处理是：将粉末进行充分的去应力退火，保温3~5小时后，缓冷至室温，对于与空气发生反应的粉末应使用真空环境或保护气氛进行退火； 步骤S4所述的整形切割打磨后的标样表面粗糙度Ra不大于10μm，打磨后的表面的去应力处理方法采用化学侵蚀或电化学侵蚀方法。
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