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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116202994B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310121985.2，技术领域涉及：G01N21/45；该发明授权一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统及方法是由倪光明;吴壬熊;刘永设计研发完成，并于2023-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统及方法。所提出的系统及方法在高速扫频光学相干层析成像中引入内嵌双光纤布拉格光栅的马赫‑曾德尔干涉仪模块，其中的光纤布拉格光栅截取一定波长范围内的干涉信号，以获得高速光学相干层析成像波数线性化所需的相位校正矢量，利用该矢量对高速光学相干层析成像信号进行线性插值。本发明能有效解决扫频光源在不同扫频周期中的触发抖动问题，实现对高速光学相干层析成像信号的波数线性化重采样，保证高速光学相干层析成像轴向分辨率，显著提升光学相干层析成像系统成像能力和实用性。

本发明授权一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种高速扫频光学相干层析成像波数线性化系统，其特征在于，包括扫频光源，马赫-曾德尔干涉仪模块，探测器模块，数据采集和数据处理程序； 所述扫频光源的输出端口与第一耦合器的第一端口相连，第一耦合器将光分为第一信号光和第二信号光，第一信号光进入所述马赫-曾德尔干涉仪模块；第二信号光进入第二耦合器输入端口，第二耦合器将光分为第一入射光和第二入射光，第一入射光进入参考臂，第二入射光进入样本臂； 所述参考臂包括准直镜、平面镜，所述第一入射光进入所述参考臂，先后经过准直镜和平面镜反射回来进入第三耦合器的第一输入端口；所述样本臂包括扫描振镜、准直镜，所述第二入射光进入所述样本臂，先后经过扫描振镜和准直镜后入射到样本，再反射回来进入第三耦合器的第二输入端口； 所述第三耦合器的第一输出端口和第二输出端口分别与第一平衡探测器的两个端口相连，所述马赫-曾德尔干涉仪模块的第一输出端口和第二输出端口分别与第二平衡探测器的两个端口相连，由数据采集卡对第一平衡探测器和第二平衡探测器的输出信号进行采集，由计算机程序处理数据采集卡所采集到的数据流； 所述马赫-曾德尔干涉仪模块包括两个光纤耦合器、透镜、偏振控制器、两个不同工作频率的光纤布拉格光栅；所述第一光纤耦合器将入射到所述马赫-曾德尔干涉仪模块的光分为两束，分别经过所述透镜和偏振控制器后在所述第二光纤耦合器重新耦合；在所述的第二光纤耦合器的第一输出端口和第二输出端口分别插入所述的两个不同工作频率的光纤布拉格光栅；所述第二光纤耦合器再次将光分为两束，两束光经过所述两个光纤布拉格光栅后从所述的马赫-曾德尔干涉仪模块出射。

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