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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第四十一研究所申请的专利一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置及定标方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116256060B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211705432.3，技术领域涉及：G01J1/08；该发明授权一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置及定标方法是由刘红波;庄新港;赵发财;刘长明;张鹏举;史学舜;陈坤峰设计研发完成，并于2022-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置及定标方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置及定标方法，属于光电技术领域，该定标装置包括红外光源系统、红外光束传输通道、被测光电侦察设备、真空接口、真空罩、第一离轴抛物面反射镜、视场光阑、第二离轴抛物面反射镜、滤光片、第三离轴抛物面反射镜、阻挡杂质带探测器、脉管制冷机和真空泵机组。本发明阻挡杂质带探测器具有灵敏度高、规模阵列大、探测谱段宽和响应速度快的优势；可以实现皮瓦量级光辐射功率测量及校准，其独特性能广泛应用于空间成像等领域；利用阻挡杂质带探测器作为量值传递探测器可以提高测量精度，减小因标准光源功率抖动带来的影响，提高测量准确度。

本发明授权一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置及定标方法在权利要求书中公布了：1.一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标方法，其特征在于：采用一种光电侦察设备红外微弱光辐射定标装置，该装置包括红外光源系统、红外光束传输通道、被测光电侦察设备、真空接口、真空罩、第一离轴抛物面反射镜、视场光阑、第二离轴抛物面反射镜、滤光片、第三离轴抛物面反射镜、阻挡杂质带探测器、脉管制冷机和真空泵机组； 红外光源系统为低温黑体光源，被配置为用于提供定标用微弱红外辐射； 红外光束传输通道为真空双层波纹管，被配置为用于隔绝外界杂散光的干扰； 真空罩，被配置为用于为阻挡杂质带探测器提供及光学传输通道提供低温真空环境，隔绝杂散光，提高测量信噪比； 第一离轴抛物面反射镜、第二离轴抛物面反射镜、第三离轴抛物面反射镜，被配置为用于反射会聚微弱红外光辐射，保证光辐射传输至阻挡杂质带探测器； 视场光阑，被配置为用于屏蔽杂散光； 滤光片，被配置为用于对不同波长光辐射进行过滤； 阻挡杂质带探测器，被配置为用于微弱红外光辐射测量，输出电流信号； 脉管制冷机，被配置为用于为阻挡杂质带探测器及光学传输系统提供冷源； 真空泵机组，被配置为用于为测量系统抽真空，减小水分子对红外辐射干扰，保证微弱光辐射测量真空环境； 该方法具体包括如下步骤： 步骤1：通电开机，将红外微弱光辐射定标装置的温度降低到阻挡杂质带探测器的工作温度区间3K~10K，然后进行预热； 步骤2：调整红外光源系统的位置，使光辐射经红外光源系统后，输出的光斑中心能够准确照射到阻挡杂质带探测器的中心位置； 步骤3：调整旋转滤光片，选择特定波长的光辐射进入红外微弱光辐射定标装置，测量光辐射功率P1； 步骤4：将被测光电侦察设备移入光路，调整被测光电侦察设备的位置和倾斜角度，使光路垂直入射到光敏面中心，记录被测光电侦察设备的测量光功率值P2； 步骤5：重复步骤3和4两次或两次以上，计算平均值和，按公式1计算被测光电侦查设备的修正系数： 1； 式中： ——被校光电侦查设备在波长点的修正系数，单位为1； ——红外微弱光辐射定标装置在波长点光辐射功率均值，单位为W； ——被校光电侦查设备的测量值，单位为W。

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