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龙图腾网获悉北京理工大学;北京数缘科技有限公司;天津航天中为数据系统科技有限公司申请的专利一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116599639B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211649317.9，技术领域涉及：H04L9/00；该发明授权一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统是由王安;王浩睿;魏淙洺;孙绍飞;祝烈煌;王平设计研发完成，并于2022-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统，属于网络安全侧信道分析技术领域。所述方法将密码芯片采集到的侧信道波形分割为带操作编号的波形段，并将其降维，在低维空间上进行聚类，得到两个集合，记为集合A和集合B；根据已知的密钥推出每个波形段的正确操作，并标记到各波形段对应的点，从而得到两个集合，记为集合C和集合D；假设A与C对应、B与D对应，则将属于A但不属于C的点和属于B但不属于D的点加入集合E。设定一个阈值α，若E中点的个数小于α，则判定该方法实现不能抵抗简单能量电磁分析；否则判定则相反。本方法与系统能够跳出肉眼观察和主观判断，用更加客观公正的角度来评估密码产品的安全性。

本发明授权一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1：将密码芯片进行密码运算时采集到的能量或电磁等侧信道波形根据操作不同分割为带操作编号的波形段，并将其降维至低维空间，将每个操作对应的波形段映射为低维空间上的一个点，每个点记录其操作编号； 步骤2：在低维空间上将各波形段对应的点进行聚类，结果得到两个集合，记为集合A和集合B； 步骤3：根据已知的密钥推出每个波形段的正确操作，并标记到低维空间上各波形段对应的点，从而得到两个集合，记为集合C和集合D； 步骤4：分两种情况进行讨论，情况1假设A与C对应、B与D对应，则将属于A但不属于C的点和属于B但不属于D的点加入集合E；情况2假设A与D对应、B与C对应，则将属于A但不属于D的点和属于B但不属于C的点加入集合F； 步骤5：设定一个阈值α，若E中点的个数小于α、或者F中点的个数小于α，则判定该方法实现不能抵抗简单能量电磁分析；否则判定该方法实现能够抵抗简单能量电磁分析。

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