西安电子科技大学广州研究院;中国电子科技集团公司第二十二研究所安玲玲获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学广州研究院;中国电子科技集团公司第二十二研究所申请的专利一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116756903B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310157610.1，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法是由安玲玲;曹博鑫;冯静;蔚娜;鲁转侠;齐东玉;王岳松设计研发完成，并于2023-02-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法，涉及电离层物理研究及应用技术领域。该方法包括：获取Ap指数和Dst指数，Ap指数和Dst指数满足第一条件；通过处理F10.7指数获取电离层太阳活动指数S；利用傅里叶多项式计算出太阳活动影响值T；获取实际观测值R；利用实际观测值R和太阳活动影响值T获取弱地磁活动影响值G。本发明通过改进F10.7指数进而提出一种电离层太阳活动指数S，能够在研究foF2时，有效的将弱地磁活动对foF2的影响分离出来，有利于更直观的研究弱地磁活动对foF2和电离层的影响；本发明所提出的方法可操作性强，数据选取简易，易于实现。
本发明授权一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法在权利要求书中公布了：1.一种计算受弱地磁活动影响的foF2的方法，其特征在于，所述方法包括： 获取Ap指数和Dst指数，所述Ap指数和所述Dst指数满足第一条件； 通过处理F10.7指数获取电离层太阳活动指数S； 利用傅里叶多项式计算出太阳活动影响值T； 获取实际观测值R； 利用所述实际观测值R和所述太阳活动影响值T获取弱地磁活动影响值G； 通过公式 获取所述太阳活动影响值T，其中，，，，，，，，为傅里叶系数，表示太阳对foF2的影响，表示一年中的第几天，是太阳活动指数的前一天值； 通过公式获取所述弱地磁活动影响值G。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学广州研究院;中国电子科技集团公司第二十二研究所，其通讯地址为：510000 广东省广州市黄埔区中新知识城海丝中心B5、B6、B7栋；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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