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龙图腾网获悉北京大学申请的专利共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量方法和仪器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119268602B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411353705.1，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量方法和仪器是由陈景标;潘多;常鹏媛;王志洋;关笑蕾;刘天宇设计研发完成，并于2024-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量方法和仪器在说明书摘要公布了：本发明提供一种共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量基准装置，包括平行设置的第一光路机构与第二光路机构和拍频测量模块，光路机构包括激光发生装置、窄带干涉片、微棱镜阵列和第一环状压电模块，它们固定在高精密水平旋转台7上。本发明的共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量基准装置通过旋转腔镜改变腔长引起频率变化，将角度的变化量转化为两套装置输出激光的频率差的变化，利用窄带干涉片辅助调节进行选模，使腔模变化与干涉选频高度同步，实现激光输出频率不跳模，保证输出频率随旋转角度的连续可调谐性，解决连续测量问题，进而实现对小角度超高精度测量。

本发明授权共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量方法和仪器在权利要求书中公布了：1.一种共模消噪双激光测频的超高精度小角度测量基准装置，所述装置包括平行设置的第一光路机构与第二光路机构和拍频测量模块，其中，第一光路机构包括第一激光发生装置，第一激光发生装置的输出光光路上设置一高精密水平旋转台7，第一窄带干涉片3、第一微棱镜阵列4和第一环状压电模块5平行固定在高精密水平旋转台7上，第一微棱镜阵列4的后表面与第一环状压电模块5的前表面粘接且第一环状压电模块5的后表面中心处于所述旋转台的轴心位置； 第二光路机构包括第二激光发生装置和平行设置的第二窄带干涉片33、第二微棱镜阵列44和第二环状压电模块55，第二微棱镜阵列44的后表面与第二环状压电模块55的前表面粘接，且第二环状压电模块55的后表面与第一环状压电模块5的后表面处于同一平面内，且第二环状压电模块55的后表面中心处于所述旋转台的轴心位置； 第一激光二极管1与第二激光二极管11的初始波长相等； 第一环状压电模块5的厚度D1不等于第二环状压电模块55的厚度D2； 在各光路机构中，激光发生装置各自输出的光经过各自的窄带干涉片后被滤除带外光，得到窄带光；所述窄带光经各自的微棱镜阵列后被反射、返回到激光二极管，当腔内振荡达到阈值后，由各自的微棱镜阵列输出，得到第一被测激光和第二被测激光；两束被测激光分别输入至所述拍频测量模块，所述拍频测量模块将两束被测激光进行拍频，当第一被测激光频率和第二被测激光频率分别变化和时，则拍频频率的变化量等于。

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