长飞光纤光缆股份有限公司;湖北光谷实验室刘懋恂获国家专利权
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龙图腾网获悉长飞光纤光缆股份有限公司;湖北光谷实验室申请的专利一种光纤几何参数的测试装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119469674B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411660045.1，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权一种光纤几何参数的测试装置和方法是由刘懋恂;于竞雄;张鹏;张博闻;胡远朋;张智恒;熊壮;茅昕设计研发完成，并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光纤几何参数的测试装置和方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种光纤几何参数的测试装置和方法，属于光纤制造技术领域。本申请测试装置中，照明单元的照射方向和待测光纤的出射端面之间呈一定角度并照亮出射端面，使得出射端面在图像采集单元中清晰成像；参数解算单元用于根据端面图像中相邻像素点灰度值之差是否大于预设的灰度阈值判断出芯层包层的边界，由此推导光纤几何参数。本申请测试装置通过改进照亮光纤出射端面的照明单元，增强光纤端面图像的成像效果，再针对端面成像效果改进光纤几何参数测试的算法。由此无需再向待测光纤的入射端设置入射光源就能得到光纤的几何参数，相较于现有技术，本申请装置减少了入射光源以及入射准直透镜等一系列元器件，由此降低了装置的复杂度。
本发明授权一种光纤几何参数的测试装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种光纤几何参数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括照明单元、图像采集单元和参数解算单元； 所述照明单元位于图像采集单元和待测光纤之间，用于照亮待测光纤的出射端面，照明单元的照射方向和出射端面之间呈，使得出射端面的芯层包层边界产生明显的明暗差，在图像采集单元中清晰成像；无需再向待测光纤的入射端设置入射光源； 所述图像采集单元用于采集出射端面的端面图像； 所述参数解算单元用于根据端面图像中相邻像素点灰度值之差是否大于预设的灰度阈值来判断出芯层包层的边界，由此推导光纤几何参数。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人长飞光纤光缆股份有限公司;湖北光谷实验室，其通讯地址为：430074 湖北省武汉市东湖高新技术开发区光谷大道九号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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