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龙图腾网获悉清华大学申请的专利基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064887B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510362315.9，技术领域涉及：G01R31/08；该发明授权基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法、装置、电子设备及存储介质是由张波;邓亚强;李超然;胡军;何金良设计研发完成，并于2025-03-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：公开了一种基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法、装置、电子设备和存储介质。该方法通过测量待测电缆末端开路和短路时的首端宽频特征阻抗谱，重构出健康宽频阻抗谱，再使用数字锁相放大器算法分别分析开路阻抗谱和重构健康阻抗谱，通过对比分析结果的差值定位缺陷。本方案无需准确知道健康电缆的传播系数规律和阻抗谱参考值，解决了现有FFT法和IT法的局限性，实现了对电缆微弱隐患缺陷的高精度定位，使基于宽频阻抗谱的频域反射法具有更实用的操作性能，适用于电力系统的预防性维护。

本发明授权基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于重构宽频阻抗谱定位电力电缆隐患缺陷的方法，其特征在于，包括： 测量待测电缆末端开路时的首端宽频特征阻抗谱Zopen，并测量待测电缆末端短路时的首端宽频特征阻抗谱Zshort； 基于测量的首端宽频特征阻抗谱Zopen和Zshort，根据下式重构待测电力电缆的健康宽频阻抗谱R-Zh： R-Zhi=[1N*∑iAi]*[expBi+1expBi-1], 其中，N为阻抗谱中数据点总数，i为编号，i=1,2,…,N，Ai=sqrtZopeni*Zshorti，sqrt表示开方运算，Bi=log[1+2*AiZopeni-Ai]； 根据待测电缆主绝缘层的相对介电常数，得到用于确定阻抗谱分析频率间隔的基准伪频率； 基于所述基准伪频率确定待测电缆的待分析定位区间各个待分析数据点对应的参考频率列表； 利用所述参考频率列表，采用数字锁相放大器算法分别将首端宽频特征阻抗谱Zopen和重构的健康宽频阻抗谱R-Zh作为伪时域信号进行分析，得到对应的分析结果； 根据首端宽频特征阻抗谱Zopen对应的分析结果和健康宽频阻抗谱R-Zh对应的分析结果的差值，定位隐患缺陷； 其中，根据下式得到所述基准伪频率f0： f0=2*sqrtepsilonc*N0， 其中，epsilon为待测电缆主绝缘层的相对介电常数，c为光速，N0为每米分析的数据点数； 以及根据下式确定待分析定位区间各个待分析数据点对应的参考频率列表F： F=[l1*N0*f0:f0:l2*N0*f0]， 其中，[l1*N0*f0:f0:l2*N0*f0]表示从l1*N0*f0到l2*N0*f0、步长为f0的等差数列，其中l1和l2为待分析定位区间的起点和终点，f0为基准伪频率。

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