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龙图腾网获悉北京工业大学申请的专利一种基于整环的数据存储完整性校验系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120277729B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510784894.6，技术领域涉及：G06F3/06；该发明授权一种基于整环的数据存储完整性校验系统及方法是由宁振虎设计研发完成，并于2025-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于整环的数据存储完整性校验系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于整环的数据存储完整性校验系统及方法，涉及数据安全技术领域。包括数据编码模块、基生成模块、标准值库和度量模块；数据编码模块用于将格式为二进制的待校验的数据转化成整数，基生成模块用于选取基空间并利用随机选取方式生成基，度量模块通过调用基生成模块和标准值库以完成数据的完整性校验，准值库存放输入数据的标准完整性校验值。本发明有别于常规密码基于数学难题设计，难以抵御基于人工智能与量子计算的密码分析，仅依赖数学原理设计完整性校验机制，基于整环的基的随机选择进行数据完整性校验，以抵御基于人工智能与量子计算的各种密码攻击，安全性仅依赖于数学原理，不依赖于任何数学难题，具有无条件安全的性质。

本发明授权一种基于整环的数据存储完整性校验系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于整环的数据存储完整性校验系统，其特征在于，包括数据编码模块、基生成模块、标准值库和度量模块；数据编码模块、基生成模块和标准值库分别与度量模块连接；所涉数据指的是计算设备存储的数据和网络通信数据；数据编码模块用于将格式为二进制的待完整性校验数据转化成整数，为后续度量模块进行完整性校验作准备，待完整性校验数据为以电子方式记录的信息；基生成模块用于选取基空间并利用随机选取方式生成基，供度量模块进行后续度量；度量模块通过调用基生成模块和标准值库完成数据的完整性校验；标准值库用来存放输入的待完整性校验数据的标准完整性校验值； 标准值库按照条目存储标准完整性校验值，每一条目具体结构如下： IDi,mi,qi,ri，0≤i≤N＊ IDi为标准完整性校验值的数据标签，mi为标准完整性校验值的数据长度，qi,ri分别为标准完整性校验值所选择的基和标准校验值，N*为标准值库数据条目的个数，基准值库中的所有标准完整性校验值均采取保密存储，在完整性校验系统内部使用； 度量模块接收元素组IDi,mi,Di，检查IDi是否在标准值库中； 1如果IDi不在标准值库中，则调用基生成模块，基生成模块在基空间A中，随机选择标准完整性校验值所选择的基qi∈A，并返回给度量模块，度量模块利用Di对基qi进行求模运算生成标准完整性校验值所选择的标准校验值ri，将IDi,mi,qi,ri存储于基准库中，同时输出数据T＝2，标志着待完整性校验数据为新增数据，待完整性校验数据的标准完整性校验值已经生成并存储； 2如果IDi在标准值库中，度量模块从标准值库中读出IDi对应的标准完整性校验值；设从标准值库中读出IDi对应的标准完整性校验值为IDi,smi,qi,sri；如果mi≠smi，则输出数据T＝0，标志着待完整性校验数据相对于标准完整性校验值进行了改变；如果mi＝smi，则利用Di对标准完整性校验值所选择的基qi进行求模运算生成新的标准完整性校验值所选择的标准校验值ri，如果ri＝sri，则输出数据T＝1，标志着待完整性校验数据相对于标准完整性校验值没有改变，否则，则输出数据T＝0，标志着待完整性校验数据相对于标准完整性校验值进行了改变。

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