新存科技(武汉)有限责任公司孙龙杰获国家专利权
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龙图腾网获悉新存科技(武汉)有限责任公司申请的专利芯片测试方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120492246B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510597999.0，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权芯片测试方法和电子设备是由孙龙杰;程昌应设计研发完成，并于2025-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试方法和电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开一种芯片测试方法和电子设备，属于半导体技术领域，该方法首先获取被测芯片各字节通道的电平信号，通过参考电压校准确定各通道的电平参考值。随后，基于该参考值独立执行分字节时序测试：在固定时钟周期下，依次为每个字节通道配置多级读取延迟，基于命令端与目标端数据选通信号的采样点，实时测量数据建立时间和保持时间。通过预校准电平参考值与分字节独立测试相结合，有效解决多字节通道间的占空比失衡和输出差异问题，显著提升存储芯片时序参数的测量精度。
本发明授权芯片测试方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取被测芯片各字节通道输出的电平信号； 基于所述电平信号，对每个字节通道执行参考电压校准，以确定各字节通道的电平参考值； 基于所述电平参考值，对各字节通道独立执行分字节时序测试，包括： 在预设的时钟周期下，为每个字节通道依次配置多级读取延迟包括：按照从第一级读取延迟到第N级读取延迟的顺序，依次向所述被测芯片写入相应的延迟配置值，以使得所述被测芯片在接收到读命令后，按照各字节通道对应的延迟时间间隔输出数据，其中N表示被测芯片的字节通道总数； 针对每个读取延迟，基于该字节通道的命令端数据选通信号和目标端数据选通信号的选通采样点，测量当前配置下的数据建立时间和数据保持时间。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人新存科技(武汉)有限责任公司，其通讯地址为：430074 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区高新大道999号武汉未来科技城龙山创新园一期B4栋18楼534(自贸区武汉片区)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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