深圳市因梦晶凯测试技术有限公司庄泽武获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市因梦晶凯测试技术有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、设备以及计算机存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121142284B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511677365.2,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权芯片测试方法、装置、设备以及计算机存储介质是由庄泽武;曲虹亮;王浩酽设计研发完成,并于2025-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试方法、装置、设备以及计算机存储介质在说明书摘要公布了:本申请提出一种芯片测试方法、装置、设备以及计算机存储介质。芯片测试方法包括:获取上位机下发的测试指令;根据测试指令修改测试设备的参数以配置对应的测试模式;根据测试模式对与测试设备连接的一个或多个待测试芯片进行测试,得到测试结果。通过上述芯片测试方法,提高了芯片测试的可靠性与效率。
本发明授权芯片测试方法、装置、设备以及计算机存储介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试方法,其特征在于,所述芯片测试方法包括: 获取上位机下发的测试指令,其中,所述测试指令包括属性信息,所述属性信息包括待测试芯片的数量、容量以及结构; 根据所述测试指令修改测试设备的参数以配置对应的测试模式,所述测试设备的处理位宽为64位,所述测试模式包括单通道测试模式和双通道测试模式,所述单通道测试表示所述测试设备对单个32位待测试芯片或单个64位待测试芯片的高32位低32位进行测试,双通道测试表示所述测试设备对两个32位待测试芯片或对单个64位待测试芯片的高32位和低32位进行并行测试; 根据所述测试模式对与所述测试设备连接的一个或多个待测试芯片进行测试,得到测试结果。
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