成都泰瑞通信设备检测有限公司李琳莹获国家专利权
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龙图腾网获悉成都泰瑞通信设备检测有限公司申请的专利一种光纤应变测试仪表校准方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121185205B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511432966.7,技术领域涉及:G01B11/16;该发明授权一种光纤应变测试仪表校准方法是由李琳莹;王岳泰;肖势川;薛梦驰;唐筱;白闻海;李秋云;杜泉峰设计研发完成,并于2025-10-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光纤应变测试仪表校准方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种光纤应变测试仪表校准方法,涉及光纤应变测试技术领域,包括:取待测光纤的光纤样品;基于机械测量法直接测量光纤样品的物理长度;将光纤实际的群折射率输入相移法仪表,将相移法仪表归零,之后通过相移法仪表测量出光纤样品的测量光纤长度,通过光纤样品的测量光纤长度与光学长度计算长度误差,通过两个光纤样品各自的光学长度、测量光纤长度计算应变测试误差,两个光纤样品中一个光纤样品的长度大于另外一个光纤样品的长度,通过长度误差、应变测试误差校准相移法仪表。本发明提供了一套统一的光纤应变测试仪表校准方法,使得跨设备的测试结果能够直接进行比对,提升了不同厂商测试数据的可信度。
本发明授权一种光纤应变测试仪表校准方法在权利要求书中公布了:1.一种光纤应变测试仪表校准方法,其特征在于,包括: 取待测光纤的光纤样品; 基于机械测量法直接测量光纤样品的物理长度; 将光纤样品接入时延测试系统,测量光纤样品的光学长度,调整时延测试系统测量过程中光纤样品的群折射率,使得光学长度与物理长度相等,记录此时群折射率为光纤实际的群折射率; 将光纤实际的群折射率输入相移法仪表,将相移法仪表归零,之后通过相移法仪表测量出光纤样品的测量光纤长度,通过光纤样品的测量光纤长度与光学长度计算长度误差,通过两个光纤样品各自的光学长度、测量光纤长度计算应变测试误差,两个光纤样品中一个光纤样品的长度大于另外一个光纤样品的长度,通过长度误差、应变测试误差校准相移法仪表; 通过光纤样品的测量光纤长度与光学长度计算长度误差,通过长度误差校准相移法仪表,包括: 采用归零后的相移法仪表测量该光纤样品的测量光纤长度Lphase; 计算测量光纤长度Lphase与其光学长度LTimeDelayMethod之间的长度误差,计算公式如下: 长度误差=∣Lphase−LTimeDelayMethod∣LTimeDelayMethod×100%; Lphase为测量光纤长度,LTimeDelayMethod为其光学长度; 若长度误差超出预设的长度误差阈值,需检查相移法仪表的状态; 通过两个光纤样品各自的光学长度、测量光纤长度计算应变测试误差,通过应变测试误差校准相移法仪表,包括: 通过两个光纤样品各自的光学长度计算应变测试标准值,计算公式如下: Strain测试标准值=L2L1*100%; 其中,Strain测试标准值为应变测试标准值,L2为较短光纤的光学长度,L1为较长光纤的光学长度; 采用归零后的相移法仪表测量该两个光纤样品的长度,得到两个光纤样品各自的测量光纤长度,通过两个光纤样品各自的测量光纤长度计算应变测试值,计算公式如下: Strain测试值=L2测L1测*100%; 其中,Strain测试值为应变测试值,L2测为较短光纤的测量光纤长度,L1测为较长光纤的测量光纤长度; 计算应变测试标准值与应变测试值之间的误差,计算公式如下: 应变测试误差值=Strain测试值-Strain测试标准值; 若应变测试误差值超过预设应变误差阈值,则该相移法仪表不满足光纤拉伸应变测试需求,该应变测试误差值为仪表校准后的修正值。
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