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龙图腾网获悉此芯科技(北京)有限公司申请的专利一种翻转覆盖率测试方法、装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121303023B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511862130.0，技术领域涉及：G06F30/333；该发明授权一种翻转覆盖率测试方法、装置、存储介质及电子设备是由刘云岭;刘凯;黄瀚文设计研发完成，并于2025-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种翻转覆盖率测试方法、装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提出一种翻转覆盖率测试方法、装置、存储介质及电子设备，获取目标端口映射关系，其中，目标端口映射关系为芯片设计文件中目标IP模块的各个端口与匹配的目标物理节点之间的映射关系，目标IP模块为芯片设计中的任一IP模块；将目标端口映射关系输入翻转覆盖率测试工具；翻转覆盖率测试工具对目标端口，进行翻转覆盖率测试，生成对应的翻转覆盖率测试报告；其中，目标端口包括目标IP模块所匹配的各个目标物理节点的端口。直接对目标物理节点的端口进行翻转覆盖率测试，聚焦在真正有效的关键覆盖点，并且在不同迭代项目或不同里程碑之间复用或参考。

本发明授权一种翻转覆盖率测试方法、装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种翻转覆盖率测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标端口映射关系，其中，所述目标端口映射关系为芯片设计文件中目标IP模块的各个端口与匹配的目标物理节点之间的映射关系，所述目标IP模块为芯片设计中的任一IP模块； 将所述目标端口映射关系输入翻转覆盖率测试工具； 所述翻转覆盖率测试工具对目标端口，进行翻转覆盖率测试，生成对应的翻转覆盖率测试报告； 其中，所述目标端口包括所述目标IP模块所匹配的各个目标物理节点的端口； 在所述翻转覆盖率测试工具对目标端口，进行翻转覆盖率测试，生成对应的翻转覆盖率测试报告之前，所述方法还包括： 将忽略规则文件输入所述翻转覆盖率测试工具； 其中，所述忽略规则文件包括第一类待忽略端口的标识，所述第一类待忽略端口为所有目标物理节点的第一类端口，其中，所述第一类端口为输入端口或输出端口； 所述翻转覆盖率测试工具对目标端口，进行翻转覆盖率测试，生成对应的翻转覆盖率测试报告，包括： 从所述目标端口剔除待忽略端口，对剩余的目标端口，进行翻转覆盖率测试，生成对应的翻转覆盖率测试报告； 所述忽略规则文件还包括第二类待忽略端口的标识，所述第二类待忽略端口为需要忽略的目标物理节点除开第一类端口以外的剩余端口，所述需要忽略的目标物理节点为层级属性值大于层级阈值的目标物理节点； 所述翻转覆盖率测试方法还包括： 对芯片设计中所述目标IP模块对应的RTL文件进行解析，以得到所述目标IP模块的各个RTL设计文件所对应的目标物理节点的层级属性值和端口方向； 根据所述目标物理节点的端口方向确定各个第一类待忽略端口； 根据所述层级阈值和目标物理节点的层级属性值确定所述需要忽略的目标物理节点，进而确定各个第二类待忽略端口； 根据确定的第一类待忽略端口和第二类待忽略端口，生成忽略规则文件。

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