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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统及其测试效率方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121454292B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610005085.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统及其测试效率方法是由罗泽嘉;文建伟设计研发完成，并于2026-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统及其测试效率方法在说明书摘要公布了：本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统及其测试效率方法，该系统包括：SOC芯片一面与测试电路板连接、另一面与转接板的下表面连接；其中，转接板的下表面的第一连接区域用于连接SOC芯片，转接板的上表面的第二连接区域用于连接待测存储芯片；转接板的下表面的第一连接区域设置有与SOC芯片的引脚排布相对应的第一引脚结构，第一引脚结构包括多个第一引脚；转接板的上表面的第二连接区域设置有与待测存储芯片的引脚排布相对应的第二引脚结构，每个第二引脚结构包括多个第二引脚；转接板包括层叠于上表面和下表面之间的多个金属层。本发明实现了提升了存储芯片测试的响应速度。

本发明授权一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统及其测试效率方法在权利要求书中公布了：1.一种提高逻辑分析仪对存储芯片的测试效率系统，其特征在于，所述系统包括：SOC芯片、转接板、测试电路板、待测存储芯片、逻辑分析仪和示波器，测试电路板用于供电分配和指令转发； SOC芯片一面与测试电路板连接、另一面与转接板的下表面连接； 其中，转接板的下表面的第一连接区域用于连接SOC芯片，转接板的上表面的第二连接区域用于连接待测存储芯片；转接板的下表面的第一连接区域设置有与SOC芯片的引脚排布相对应的第一引脚结构，第一引脚结构包括多个第一引脚；转接板的上表面的第二连接区域设置有与待测存储芯片的引脚排布相对应的第二引脚结构，每个第二引脚结构包括多个第二引脚；转接板包括层叠于上表面和下表面之间的多个金属层，每个第二引脚通过至少一个金属层中的走线及金属过孔与对应的第一引脚连接，实现了SOC芯片转接存储芯片； 其中，转接板的上表面还设有位于第二连接区域沿第一方向两侧的若干测试焊盘、位于第二连接区域沿第二方向两侧的若干电阻、位于转接板沿第一方向两侧边缘处的连接器，连接器与逻辑分析仪的连接线连接，将待测存储芯片的测试信号或测试数据输出至逻辑分析仪，第一方向和第二方向垂直，连接器包括若干输出引脚，第二连接区域中的第二引脚通过走线与对应电阻的一端连接，电阻的另一端通过走线与对应的连接器的输出引脚连接；测试焊盘通过金属层中的走线与至少一个第二引脚连接，测试焊盘与示波器连接，以展示测试波形； 所述系统采用测试信号分流，功能信号仅在第一引脚—内部走线—第二引脚的主路径传输，测试信号则从第二引脚分出分支路径，一路经电阻调理后接入连接器，另一路直接接入测试焊盘。

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