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致茂电子(苏州)有限公司陈秉宽获国家专利权

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龙图腾网获悉致茂电子(苏州)有限公司申请的专利应用轴向色差的对焦方法及使用该方法的光学检测架构获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115854863B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111118688.X,技术领域涉及:G01B11/00;该发明授权应用轴向色差的对焦方法及使用该方法的光学检测架构是由陈秉宽;朱建勋设计研发完成,并于2021-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。

应用轴向色差的对焦方法及使用该方法的光学检测架构在说明书摘要公布了:本发明公开了一种应用轴向色差的对焦方法及使用该方法的光学检测架构。不同波段的光线经光学系统会将不同深度的样品面成像,亦即针对任一特定深度的样品面而言,不同波段的光线经光学成像系统会呈现出不同的准焦程度。准焦程度可由算法计算出一量化指数,不同色光在每一个样品深度对应其各自的量化指数。预先建置不同色光彼此间的量化指数比值查找表,于光学检测设备在生产线上进行检测时,每个检测点仅需取得一幅影像并区分为第一波段影像资料及第二波段影像资料,以及取得在准焦程度分析上所各自对应的一量化指数数值,依此二数值的比值在量化指数比值查找表中匹配出对应的位置参数,进而取得光学检测设备的焦面位置的调整依据,提高检测效率。

本发明授权应用轴向色差的对焦方法及使用该方法的光学检测架构在权利要求书中公布了:1.一种应用轴向色差的对焦方法,其基于预先建置的一量化指数比值查找表,于一检测程序中使一检测机在一第一轴向上完成对一检测点的对焦,该方法包含: 使该检测机在该检测点上的一工作区间内取得一检测影像; 将该检测影像区分为相异两波段的一第一波段影像资料及一第二波段影像资料,并取得所述第一波段影像资料及所述第二波段影像资料在清晰度分析上所各自对应的一量化指数数值; 依据所述第一波段影像资料及所述第二波段影像资料各自的量化指数数值取得两数值间的一比值,依据所述比值在所述量化指数比值查找表中寻找匹配的一位置参数;及 依据所述位置参数调整所述检测机的焦面位置, 其中,所述量化指数比值查找表是指非于所述检测程序中,依据所述工作区间内的一基准焦面位置及自所述工作区间区分而出的多个辨识区间,在每一辨识区间内基于所述检测机的取像以取得所述相异两波段下所对应的一量化指数比值及所述检测机当下的一焦面位置与所述基准焦面位置之间的一差异程度信息,所述差异程度信息作为所述位置参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人致茂电子(苏州)有限公司,其通讯地址为:215129 江苏省苏州市高新区珠江路855号(第七号厂房);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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