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龙图腾网获悉无锡华润上华科技有限公司申请的专利芯片测试系统和芯片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115993517B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111213894.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试系统和芯片测试方法是由唐槐璐;王浩;李侠;周健慧;陈强;朱丽娟;杨晓寒设计研发完成，并于2021-10-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试系统和芯片测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种芯片测试系统和芯片测试方法，通过对待测芯片分为时序单元和非时序单元，并针对同一类型单元中同一属性的端并联后连接在测试向量输出模块上相应属性的输出端，以便配置待测芯片中非时序单元的组合逻辑功能和或时序单元的时序逻辑功能的全功能测试所需的测试向量。测试时，利用控制器的控制功能，控制测试向量输出模块按照预设规则输出测试向量，并根据选择输出电路的输入端所接的、当前测试向量作用的单个被测单元的输出路数，控制选择输出单元输出当前测试向量作用的单个被测单元的功能测试结果，通过控制器控制测试向量输出模块输出的测试向量，实现芯片中每个被测单元的全部功能测试，整个过程全自动化作业，效率高，可靠性高。

本发明授权芯片测试系统和芯片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括： 测试向量输出模块，所述测试向量输出模块包括多个不同属性的输出端，所述测试向量输出模块的不同属性的输出端分别用于匹配连接待测芯片中的各非时序单元的输入端和各时序单元的输入端，以配置待测芯片中非时序单元的组合逻辑功能和时序单元的时序逻辑功能的全功能测试所需的测试向量，单个被测单元不同的输入端所连接的所述测试向量输出模块的输出端不同；所述被测单元为所述待测芯片中的所述时序单元或所述非时序单元；其中，所述待测芯片中各非时序单元的同一属性的输入端并联后连接到所述测试向量输出模块对应属性的输出端，所述待测芯片中各时序单元的同一属性的输入端并联后连接到所述测试向量输出模块对应属性的输出端； 选择输出电路，所述选择输出电路的输入端连接各所述非时序单元的输出端和各所述时序单元的输出端； 控制器，所述控制器与所述测试向量输出模块的控制端和所述选择输出电路的控制端连接，用于控制所述测试向量输出模块按照预设规则输出所述测试向量，以依次测试所述待测芯片中的每个所述被测单元；且用于控制所述选择输出电路输出当前测试向量作用的单个被测单元的功能测试结果； 所述预设规则为保证所述测试向量输出模块输出待测芯片中各所述被测单元的全部功能测试所需测试向量的规则。

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