华南师范大学吴立军获国家专利权
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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种红外光学系统的消色差方法及其红外光学系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116560046B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310423134.3,技术领域涉及:G02B13/14;该发明授权一种红外光学系统的消色差方法及其红外光学系统是由吴立军;魏亚壮;吴欣恩;陈浩瀚;刘佳鑫;赫明磊;王浩;王昀炜;黄杨;詹逸瑜;李强设计研发完成,并于2023-04-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种红外光学系统的消色差方法及其红外光学系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种红外光学系统的消色差方法及其红外光学系统。本发明所述消色差方法,其中,红外光学系统包括从物方至像方依次设置的一折射透镜和一超构透镜,所述方法包括如下步骤:获取在纳米原子的尺寸变化范围内的所述纳米原子的相位分布和光透过率分布;确定超构透镜的二元面型的相位轮廓曲线,进而获取超构透镜的纳米原子的设置参数,并且在获取所述超构透镜的纳米原子的设置参数后,进行FDTD仿真实验,获取红外光学系统的聚焦效率,并利用该聚焦效率对红外光学系统进行参数的优化以提高红外光学系统的消色差效果。本发明所述的红外光学系统的消色差方法,其聚焦效率提高、成像质量好,能够实现8‑12um波段的良好聚焦成像。
本发明授权一种红外光学系统的消色差方法及其红外光学系统在权利要求书中公布了:1.一种红外光学系统的消色差方法,其中,该红外光学系统包括从物方至像方依次设置的一折射透镜和一超构透镜,所述超构透镜包括基底和设置在基底表面的多个纳米原子;其特征在于,包括如下步骤: S1、获取在所述纳米原子的尺寸变化范围内,所述纳米原子的相位分布和光透过率分布;以及获取所述超构透镜的二元面型的相位轮廓曲线; S2、根据所述纳米原子的相位分布和光透过率分布、以及所述超构透镜的所述相位轮廓曲线,获取所述纳米原子在超构透镜上的设置参数; S3、根据所述红外光学系统的参数、以及步骤S2中所得到的所述纳米原子在超构透镜上的设置参数,得到优化后的红外光学系统的参数; S4、FDTD仿真实验,获取优化后的红外光学系统的聚焦效率; S5、当所述聚焦效率大于等于一设定阈值时,则输出所述优化后的红外光学系统的参数;当所述聚焦效率小于一设定阈值时,则返回步骤S2,调整所述超构透镜的纳米原子的设置参数,直至所述聚焦效率大于等于所述设定阈值; 在返回至步骤S2后,调整所述纳米原子的尺寸、以及相邻两纳米原子之间的间隔。
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