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龙图腾网获悉安福县海能实业股份有限公司申请的专利USB下行口性能测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116708254B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310545452.7，技术领域涉及：H04L43/50；该发明授权USB下行口性能测试系统及测试方法是由周洪亮;何杰设计研发完成，并于2023-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本USB下行口性能测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种USB下行口性能测试系统及测试方法，USB下行口性能测试系统包括测试软件和测试治具；测试软件配置在上位机中，测试治具通过被测设备与上位机连接；测试软件通过被测设备向测试治具发送测试指令，以对被测设备的USB下行口的通信速率、带负载能力、输出过载保护功能、输出短路保护功能以及IO是否存在开路、短路现象进行测试。本申请通过自动化方式对被测设备的USB下行口性能进行测试，操作简单，测试效率高，测试结果更准确，能够极大地节省人力成本。

本发明授权USB下行口性能测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种USB下行口性能测试系统，其特征在于，包括测试软件和测试治具；所述测试软件配置在上位机中，所述测试治具通过被测设备与所述上位机连接；所述测试软件通过所述被测设备向所述测试治具发送测试指令，以对所述被测设备的USB下行口的通信速率、带负载能力、输出过载保护功能、输出短路保护功能以及IO是否存在开路、短路现象进行测试； 所述测试治具包括HUB、第一选择开关、USB高速硬盘、MCU、IO在线测量电路、第二选择开关、可编程电子负载和法拉电容模块； 所述HUB的上行接口通过所述第一选择开关与USB总线连接，所述USB总线与被测设备的USB下行口连接；所述HUB的下行接口与所述USB高速硬盘连接； 所述MCU依次通过电源线、USB总线和被测设备与所述上位机连接，所述上位机通过被测设备为所述MCU供电； 所述MCU与所述HUB和第一选择开关连接，所述MCU控制所述第一选择开关选择导通与所述IO在线测量电路或HUB的连接； 所述MCU通过所述第二选择开关与所述USB高速硬盘或可编程电子负载连接，以通过所述第二选择开关选择导通与所述USB高速硬盘或可编程电子负载的连接，为所述USB高速硬盘或可编程电子负载供电； 所述法拉电容模块包括电压降压电路和法拉电容，所述电压降压电路的输入端与电源连接，其输出端与所述MCU和法拉电容的正极连接，法拉电容的负极接地；电源线上的电力供应为所述法拉电容模块充电，当所述MCU在执行电源过流保护测试或电源短路保护测试时，所述法拉电容为所述MCU供电； 所述可编程电子负载用于根据所述MCU发送的不同电流设置指令从电源线上吸收不同的电流，还用于根据所述MCU发送的短路指令将电源线短路到GND； 所述IO在线测量电路包括第一测量开关、负压恒流源、第二测量开关和电压保持电路； 所述第一测量开关的一端通过所述第一选择开关和USB总线与所述被测设备的USB下行口连接，其另一端与所述负压恒流源连接；所述负压恒流源通过USB总线与所述被测设备中的电源连接；所述第一测量开关的另一端还通过所述第二测量开关与所述电压保持电路连接，所述电压保持电路与MCU连接； 所述MCU与所述第一测量开关和第二测量开关连接，用于控制所述第一测量开关选择导通与USB下行口中的哪一根数据线的连接，还用于控制所述第二测量开关选择导通或断开； 所述MCU控制所述IO在线测量电路进行在线测量的过程为： 所述MCU通过控制所述第一测量开关来选中当前的被测IO，然后所述MCU控制启动所述第二测量开关，以采样当前选中通道的负向电压值；所述负向电压值通过所述电压保持电路输入所述MCU中； 所述MCU启用内部的模数转换电路ADC对接收到的负向电压值进行模数转换，得到当前被测IO在所述负压恒流源下的电压值； 重复执行上面两步，以完成对所述IO在线测量电路中全部被测IO的测量； 所述MCU将测得的全部IO在所述负压恒流源下的电压值回传给所述测试软件，以便于所述测试软件根据各IO的反向电压值来判断是否存在开路或短路的情况。

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