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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116952952B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310868813.1，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统是由季文韬;刘昭昕;郭宇航;王亚;杜江峰设计研发完成，并于2023-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统在说明书摘要公布了：一种固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统，该探测方法包括：根据荧光获取每个探针点缺陷对应的谱学信息，根据探针点缺陷对应的谱学信息得到探针点缺陷的局域电场信号，根据跳变前后探针点缺陷的局域电场信号，得到探针点缺陷的跳变信号；在发生多次电荷态跳变后，所有探针点缺陷的跳变信号组合成一个多维空间；对多维空间中的跳变信号进行第一分类；根据第一分类中的每类跳变信号，得到每个电子点缺陷在对应的每个探针点缺陷处的电场信息；获取各个探针点缺陷的相对位置；根据每个电子点缺陷在对应的多个探针点缺陷处的电场信息、电子点缺陷对应的多个探针点缺陷的相对位置，得到电子点缺陷与对应的多个探针点缺陷的相对位置。

本发明授权固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统在权利要求书中公布了：1.一种固体材料中电子点缺陷的探测方法，包括： 响应于待测样品中的探针点缺陷发出荧光，根据所述荧光获取每个探针点缺陷对应的谱学信息，根据所述探针点缺陷对应的谱学信息得到所述探针点缺陷的局域电场信号； 在所述待测样品中的每个电子点缺陷的电荷态发生跳变的同时，所述待测样品中的多个探针点缺陷的局域电场信号发生跳变，即多个探针点缺陷的局域电场信号发生对应于所述电子点缺陷的关联跳变，根据跳变前后所述探针点缺陷的局域电场信号，得到所述探针点缺陷的跳变信号； 在发生多次电荷态跳变后，所有探针点缺陷的跳变信号组合成一个第一多维空间，同一个电子点缺陷引起的关联跳变的多个跳变信号在所述多维空间中的位置相同； 对所述多维空间中的跳变信号进行第一分类，其中，第一分类中的每类跳变信号对应同一个电子点缺陷的电荷态跳变； 根据第一分类中的每类跳变信号，得到每个电子点缺陷在对应的每个探针点缺陷处的电场信息； 获取各个探针点缺陷的相对位置； 根据每个电子点缺陷在对应的多个探针点缺陷处的电场信息，以及所述电子点缺陷对应的多个探针点缺陷的相对位置，得到所述电子点缺陷与对应的多个探针点缺陷的相对位置，完成所述电子点缺陷的探测； 其中，所述探针点缺陷的电荷态发生多次跳变，所述探针点缺陷的电荷态发生跳变引起其他探针点缺陷产生跳变信号； 获取各个探针点缺陷的相对位置，包括： 将探针点缺陷的电荷态发生跳变的产生跳变信号组合成一个第二多维空间； 对所述第二多维空间中的跳变信号进行第二分类，其中，第二分类中的每类跳变信号对应同一个探针点缺陷的电荷态跳变； 根据第二分类中每类跳变信号得到每个探针点缺陷在对应的其他每个探针点缺陷处的电场信息； 根据每个探针点缺陷在对应的其他每个探针点缺陷处的电场信息，得到各个探针点缺陷的相对位置。

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