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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120370036B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510541483.4，技术领域涉及：G01R27/02；该发明授权一种测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置和方法是由曾成;管子龙;宁俊松;王占平;魏学迪;罗力;汪晋霄设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置和方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置和方法，属于电子学技术领域，装置包括测试座、校准座、校准板、支撑板和密封腔，测试座包括测试腔体、介质柱、输入耦合结构、输出耦合结构和介质支撑装置，介质柱为异径同轴圆柱形，分为支撑柱和谐振柱两部分，支撑柱通过介质支撑装置与测试腔体固定，谐振柱的末端面与测试腔体的底端面处于同一平面，支撑柱的直径小于谐振柱，使得支撑柱与测试腔体共同构成一段相对于所需谐振频率的截止波导，使电磁场被束缚在介质柱周围，提升测试灵敏度。本发明还提出了一种可快速测试待测高温超导体样品正反两面的微波表面电阻的双面交叉测试法，可显著降低系统误差，保证测试的准确性与可靠性。

本发明授权一种测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种测量高温超导微波表面电阻的方法，其特征在于，基于测量高温超导微波表面电阻的高灵敏度装置实现，高灵敏度装置包括测试座、校准座、校准板、支撑板和密封腔； 所述测试座包括底端面开放的测试腔体、介质柱、输入耦合结构、输出耦合结构和介质支撑装置；其中，介质柱为异径同轴圆柱形，位于测试腔体内部中心，分为支撑柱和谐振柱两部分，支撑柱通过介质支撑装置与测试腔体固定，谐振柱的末端面与测试腔体的底端面处于同一平面，支撑柱的直径小于谐振柱的直径，使得支撑柱与测试腔体共同构成一段相对于所需谐振频率的截止波导； 所述校准座与测试座的结构完全相同，可拆卸地设置于介质柱和测试腔体的底端面； 所述校准板的微波表面电阻已知，可拆卸地设置于介质柱和测试腔体的底端面； 待测高温超导体样品放置于介质柱和测试腔体的底端面，通过可拆卸的支撑板紧固待测高温超导体样品； 所述密封腔可拆卸地设置于测试腔体的底端面外延， 所述方法具体包括以下步骤： 步骤B1、将校准座加载至测试座的底端面，二者关于底端面呈镜像对称，并使用密封腔封住校准座，将所得测试装置保持在待测高温超导体样品的工作温度，测得谐振频率下的品质因数； 步骤B2、在测试座的底端面依次加载校准板和校准座，并使用密封腔封住校准板和校准座，将所得测试装置保持在待测高温超导体样品的工作温度，测得谐振频率下的测试座品质因数和校准座品质因数； 步骤B3、在测试座的底端面依次加载待测高温超导体样品和校准座，其中待测高温超导体样品的正面朝向测试座一侧，反面朝向校准座一侧，并使用密封腔封住待测高温超导体样品和校准座，将所得测试装置保持在待测高温超导体样品的工作温度，测得谐振频率下的测试座正面品质因数和校准座反面品质因数； 步骤B4、将步骤B3的待测高温超导体样品进行翻面，具体反面朝向测试座一侧，正面朝向校准座一侧，继续测得谐振频率下的测试座反面品质因数和校准座正面品质因数； 步骤B5、根据公式： ； 计算得到谐振频率下待测高温超导体样品的正面微波表面电阻和反面微波表面电阻；为谐振频率下校准板的微波表面电阻； 所述方法中的测试装置的工作模式均为TE011模式。

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