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龙图腾网获悉北京大学申请的专利碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121027285B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511170993.1，技术领域涉及：G01N27/68；该发明授权碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法是由彭士香;朱建斌;崔步坚;董宜承;郭之虞设计研发完成，并于2025-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法，属于核素分析技术领域。该方法包括：通过分段剥离及电荷交换的方式，利用特定气体剥离靶消除C‑H分子离子干扰，再通过非金属气体电荷交换靶形成C‑离子，配合前聚焦、后聚焦以及磁铁分析，得到高强度的C‑离子流强；C+离子流强达到6‑7mA，电荷交换后的C‑离子流强达到260μA；特定气体为He气、Ar气、N2气中的任意一种或多种，非金属气体为H2、CH4、C2H4和C4H10中的任意一种或多种。本发明中离子源产生的C+流强比C2+高数倍，而使用C+与C2+离子进行电荷交换产生C‑的效率接近，因此基于C+进行14C分析的效率能够相较于使用C2+提高数倍。

本发明授权碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法在权利要求书中公布了：1.一种碳正离子质谱装置中基于C+离子进行14C分析的方法，其特征在于，所述方法： 通过分段剥离及电荷交换的方式，利用特定气体剥离靶消除C-H分子离子干扰，再通过非金属气体电荷交换靶形成C-离子，配合前聚焦、后聚焦、磁铁分析和静电分析，得到14C13C和14C12C的值； 所述特定气体为He气、Ar气、N2气中的任意一种或多种； 所述方法的步骤包括： S1、通过抽气得到工作所需真空环境； S2、释放离子束，并提供所需的引出电压，以控制C+离子电荷交换时的能量； S3、将剥离靶及电荷交换靶的进气量设置为0，调整前后聚焦参数及磁铁磁场分析参数，使C+离子能够实现良好的聚焦与传输，并测量和记录C+流强Ic+； S4、根据离子能量，调节前聚焦参数，使离子束束腰位于电荷交换靶中心，以降低电荷交换气体的耗气量； S5、向剥离靶中通入所述特定气体，进行C-H分子离子剥离，调节所述特定气体的气流量，在保证消除干扰的同时得到较高的传输效率； S6、在电荷交换靶中通入非金属气体，对剥离后的束流进行电荷交换； S7、对电荷交换后的C-离子进行后聚焦，再磁铁磁场分析，通过调整分析磁铁磁场强度，对离子进行选择； S8、调节电荷交换气体的气流量，测量和记录C-离子流强Ic-； S9、改变引出电压，返回S5，直至满足退出条件； S10、通过计算得到不同条件下的电荷交换效率，并得到电荷交换效率与相关参量的定量关系；电荷交换效率的计算方式为：； S11、在最高电荷交换效率条件下进行14C分析，将得到的C-离子经两组静电分析器及磁分析器，使用探测器对14C-进行计数，得到14C13C和14C12C值，给出样品的年代信息。

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