胜科纳米(苏州)股份有限公司赵弇斐获国家专利权
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龙图腾网获悉胜科纳米(苏州)股份有限公司申请的专利一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法及其应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121595286B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610130214.3，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法及其应用是由赵弇斐;朱雷;王志愿;李晓旻设计研发完成，并于2026-01-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法及其应用在说明书摘要公布了：本发明提供了一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法及其应用，所述样品制备方法包括以下步骤：将待测样品制备得到片状样品，之后取两片片状样品，将其待测面相对接触并施压、保压，泄压后任选一片作为测试样品；将镂空金属片放置在二次离子质谱样品台镂空处，将测试样品的待测面面对所述镂空金属片放置并压平，完成所述样品制备。本发明提供的方法不会破坏多孔材料表面孔结构，可以明显改善多孔材料的二次离子质谱信号，同时明显提高检测重复性，多次测试质谱信号可重复，有利于该类多孔材料的二次离子质谱分析。
本发明授权一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法及其应用在权利要求书中公布了：1.一种用于分析多孔材料的二次离子质谱分析的样品制备方法，其特征在于，所述样品制备方法包括以下步骤： 将待测样品制备得到片状样品，之后取两片片状样品，将其待测面相对接触并施压、保压，泄压后任选一片作为测试样品； 将测试样品的待测面面对二次离子质谱样品台镂空处放置并压平，完成所述样品制备。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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