上海仪电分析仪器有限公司黄磊获国家专利权
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龙图腾网获悉上海仪电分析仪器有限公司申请的专利消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224109339U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423194867.3，技术领域涉及：G01N21/64；该实用新型消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构是由黄磊;黄正义;李娟;王玉昭;龚建设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构在说明书摘要公布了：本实用新型公开了消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构，具体涉及荧光分析检测技术领域，包括EM光能分束器、EM波长能量匹配调谐器、监测倍增管、电子负反馈补偿控制模块和测量倍增管，EM光能分束器设于荧光分光光度计内的样品池与EM分光器一之间，EM光能分束器将EX光能分束为两路，水平方向的光束一进荧光测量通道完成荧光测试，垂直方向的光束二进EX光能监测通道，作EX光能波动监测。本实用新型设计了一个监测光路的光电特性与测量光路检测器一致的监测光路结构嵌入仪器的测量光路与电路中，从而即时获得与样品荧光同量比且同相位同步的波动量的校正补偿量来消除荧光测试中EX能量波动带来的误差影响。
本实用新型消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构在权利要求书中公布了：1.消除荧光分光光度计EX光谱波动影响的监测与补偿结构，其特征在于：包括EM光能分束器3、EM波长能量匹配调谐器5、监测倍增管6、电子负反馈补偿控制模块7和测量倍增管9，所述EM光能分束器3设于荧光分光光度计内的样品池4与EM分光器一2之间，EM光能分束器3将EX光能分束为两路； 水平方向的光束一进荧光测量通道完成荧光测试； 垂直方向的光束二进EX光能监测通道，作EX光能波动监测； 光束二经EM波长能量匹配调谐器5、监测倍增管6、电子负反馈补偿控制模块7和测量倍增管9实现EX波动影响的同步校正。
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