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龙图腾网获悉河北华尚文优电子科技有限责任公司申请的专利一种接触传感器寿命测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115683193B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211367538.7，技术领域涉及：G01D18/00；该发明授权一种接触传感器寿命测试装置及测试方法是由李文华;张勇;张克远;高开明;李存慧设计研发完成，并于2022-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种接触传感器寿命测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种接触传感器寿命测试装置及测试方法，其中接触传感器寿命测试装置包括：基座本体；设于基座本体上的用于固定接触传感器的夹持组件，接触传感器具有断开状态和闭合状态；设于所述基座本体上的触发组件，触发组件可向靠近或远离接触传感器的方向移动；当触发组件碰触到接触传感器时，处于闭合状态，当触发组件脱离接触传感器时，处于所述断开状态；设于基座本体的一侧的驱动组件，用于驱动触发组件沿第一方向移动；各所述接触传感器电连接的控制组件，用于监控各接触传感器的状态并记录接触传感器的动作次数；进而得到接触传感器的寿命，与手持接触传感器做动作测试相比，提高了工作效率。

本发明授权一种接触传感器寿命测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种接触传感器寿命测试装置，其特征在于，包括： 测试台800； 多个寿命测试机构900，多个所述寿命测试机构900设于所述测试台800上，所述寿命测试机构900包括： 基座本体100； 夹持组件200，所述夹持组件200设于所述基座本体100上，所述夹持组件200用于固定所述接触传感器300，所述接触传感器300具有断开状态和闭合状态； 触发组件400，所述触发组件400设于所述基座本体100上，所述触发组件400可沿第一方向向靠近或远离所述接触传感器300的方向移动；当所述触发组件400碰触到所述接触传感器300时，所述接触传感器300处于所述闭合状态，当所述触发组件400脱离所述接触传感器300时，所述接触传感器300处于所述断开状态； 驱动组件500，所述驱动组件500设于所述基座本体100的一侧，所述驱动组件500用于驱动所述触发组件400沿所述第一方向移动； 控制组件600，所述控制组件600与各所述接触传感器300电连接，所述控制组件600用于监控各所述接触传感器300的状态并记录所述接触传感器300的动作次数； 所述控制组件600还用于： 设定初始位置及预设移动距离； 设定预设时长，所述预设时长为所述驱动组件500驱动所述触发组件400往复移动一次的时间； 获取环境温度信息； 构建智能算法，所述智能算法用于表征不同温度下，所述测试装置的材料形变量； 将所述环境温度信息输入至所述智能算法得到机械变形量； 基于所述机械变形量和所述预设时长，得到第一速度参数； 驱动所述驱动组件500带动所述触发组件400由所述初始位置以所述第一速度参数沿所述第一方向移动，移动所述预设移动距离时，触碰所述接触传感器300。

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