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龙图腾网获悉华东师范大学申请的专利一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115754853B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211632961.5，技术领域涉及：G01R33/24；该发明授权一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法是由宁瑞鹏;李倩文;李哲宇设计研发完成，并于2022-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法，采用正负组合梯度作为测试梯度，结合磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异，测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化，再利用该变化导致的回波峰值的改变来量度剩磁的强度。该方法避免了在测试梯度为零的条件下进行基准测试，克服了磁滞效应对基准信号的不良影响，保证了测量过程中采集回波信号时的磁场分布状态是确定并且稳定的，消除了测试顺序对测试结果的影响，从而提高了剩磁测量结果的精度和稳定度。本发明方法简单易行，可量度剩磁的空间各向异性，可用于评估剩磁对成像空间定位的影响，特别适用于判断永磁磁共振成像系统是否满足介入治疗中监控和导航对空间定位的要求。

本发明授权一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法在权利要求书中公布了：1.一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法，其特征在于：采用正负组合梯度作为测试梯度，结合磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异，测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化，再利用该变化所导致的回波峰值的改变来量度剩磁的强度，包括下述步骤： 步骤1：选定测试方向，并将条形均匀样品沿测试方向放置； 步骤2.1：设置负正组合测试梯度：将测试梯度的幅度先设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tnp_n，将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tnp_0，再将测试梯度的幅度设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tnp_p，将测试梯度的幅度设置为0；将设置的测试梯度施加在测试方向上，进行一维自旋回波扫描，扫描方向垂直于测试方向；记录自旋回波信号305的峰值A_se_np； 步骤2.2：设置负正组合测试梯度：将测试梯度的幅度先设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tnp_n，将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tnp_0，再将测试梯度的幅度设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tnp_p，将测试梯度的幅度设置为0；将设置的测试梯度施加在测试方向上，进行一维梯度回波扫描，扫描方向垂直于测试方向；记录梯度回波信号205的峰值A_ge_np； 步骤3.1：设置正负组合测试梯度：将测试梯度的幅度先设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tpn_p，将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tpn_0，再将测试梯度的幅度设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tpn_n；将测试梯度的幅度设置为0；将设置的测试梯度施加在测试方向上，进行一维自旋回波扫描，扫描方向垂直于测试方向；记录自旋回波信号305的峰值A_se_pn； 步骤3.2：设置正负组合测试梯度：将测试梯度的幅度先设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tpn_p，将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tpn_0，再将测试梯度的幅度设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tpn_n；将测试梯度的幅度设置为0；将设置的测试梯度施加在测试方向上，进行一维梯度回波扫描，扫描方向垂直于测试方向；记录梯度回波信号205的峰值A_ge_pn； 步骤4：计算A_ge_np与A_ge_pn的比值R_ge，A_se_np与A_se_pn的比值R_se；计算R_ge与R_se之间的差值，记作R_ge_se；R_ge_se用于量度磁共振成像系统中剩磁的强度，完成一轮测试； 在一个方向上测试完成后，至少应在3个互相垂直的方向上完成上述步骤1~4。

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