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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115915561B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211393284.6，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针是由杨鑫;夏英;周海山;罗广南设计研发完成，并于2022-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针，包括探测元件、热电偶、安装基座、固定基座、固定卡扣。安装基座、固定基座设有通孔；安装基座放置于固定基座上；固定卡扣焊接在固定基座上；热电偶贯穿安装基座、固定基座和固定卡扣，并在安装基座处露出探测头；热电偶通过固定卡扣实现固定；探测元件放置在安装基座上，与热电偶探测头通过陶瓷螺钉固定实现机械紧密接触。本发明解决热电偶无法直接测量热流密度的问题，利用铜片的导热和热电偶的测温，采用阵列式分布，间接测出由于离子扩散离开等离子体射向真空壁的径向辐射热流密度。

本发明授权一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针在权利要求书中公布了：1.一种用于测量等离子体辐射热流密度的阵列式辐射热探针，其特征在于，包括探测元件1，热电偶2，安装基座3，固定基座4和固定卡扣； 所述探测元件1有两个螺纹孔，通过螺纹固定在安装基座3上； 所述安装基座3沿厚度方向设有通孔，通过螺纹与固定基座4连接； 所述固定卡扣焊接在固定基座4上； 所述热电偶2贯穿所述安装基座3，固定基座4的通孔，通过固定卡扣固定在固定基座4上； 所述安装基座3为120mm长，20mm宽，10mm厚的陶瓷；所述安装基座3贯穿热电偶2的通孔直径为1.1mm；所述安装基座3固定所述探测元件1的螺纹孔直径为1mm，深度5mm；所述安装基座3与所述固定基座4的通孔直径2mm； 所述固定卡扣包括内径为3mm，外径为3.4mm，深度为15mm的固定卡扣的空心圆柱一6与内径为5mm，外径为10mm的固定卡扣的空心圆柱二5；固定卡扣的空心圆柱一6与固定卡扣的空心圆柱二5通过内径为3mm，外径为5mm，中间为圆锥平台倒角，外部有外螺纹的结构连接；固定卡扣的空心圆柱二5内部设有内螺纹。

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