武汉加特林光学仪器有限公司;武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司洪志坤获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉加特林光学仪器有限公司;武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利一种同轴光谱共焦成像系统及用于三维测量的设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116007530B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211630877.X,技术领域涉及:G01B11/24;该发明授权一种同轴光谱共焦成像系统及用于三维测量的设备是由洪志坤;郑增强;刘荣华设计研发完成,并于2022-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种同轴光谱共焦成像系统及用于三维测量的设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种同轴光谱共焦成像系统,包括光源模块、色散镜头模组、光谱成像侧狭缝装置和光谱仪;光源模块提供宽光谱的光束并将其通过光源侧狭缝装置入射到色散镜头模组;色散镜头模组将入射的光依次透过其第一色散镜头模组、分光器件和第二色散镜头模组后射到待测物表面,还将经待测物表面反射的光依次透过其第二色散镜头模组、经分光器件的反射和透过第三镜头模组后会聚到光谱成像侧狭缝装置;光谱仪对会聚到光谱成像侧狭缝装置的不同波长的光进行成像。本发明通过入射和反射光路共轴共用一个第二色散镜头模组的方式克服了现有技术在测量较陡峭凹坑或孔洞时的遮挡问题,实现了对表面更深尺寸凹坑的测量。
本发明授权一种同轴光谱共焦成像系统及用于三维测量的设备在权利要求书中公布了:1.一种同轴光谱共焦成像系统,其特征在于,包括, 光源模块、色散镜头模组、光谱成像侧狭缝装置和光谱仪; 所述光源模块用于提供宽光谱的光束并通过光源侧狭缝装置将其入射到所述色散镜头模组; 所述色散镜头模组包括分光器件和位于所述分光器件上方的用于色散的第一色散镜头模组、位于所述分光器件下方的用于色散的第二色散镜头模组、位于所述分光器件侧边的用于聚焦的第三镜头模组; 所述色散镜头模组用于将入射的所述光束依次透过所述第一色散镜头模组、所述分光器件和所述第二色散镜头模组后,使得所述光束中不同波长的光聚焦在待测物表面的不同高度,还用于将经所述待测物表面反射的光依次透过所述第二色散镜头模组、经所述分光器件的反射和透过所述第三镜头模组后会聚到所述光谱成像侧狭缝装置; 所述光谱仪用于对会聚到所述光谱成像侧狭缝装置的不同波长的光进行成像,不同波长的光成像于所述光谱仪的不同位置; 所述光谱仪沿反射的光的传播路径依次设置包括准直透镜组、光栅组件、光路补偿组件、聚光透镜组及面阵相机; 所述准直透镜组用于维持反射的光束的准直性; 所述光栅组件包括光栅,用于使反射的光束进行衍射; 所述光路补偿组件用于对经过光栅组件的光进行补偿,使得经过光栅组件衍射的预设中心波长的光通过光路补偿组件后水平出射; 所述聚光透镜组的光轴与所述准直透镜组、所述第三镜头模组的光轴重合; 所述面阵相机用于对透过所述聚光透镜组的光进行成像。
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