上海无线电设备研究所石国昌获国家专利权
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龙图腾网获悉上海无线电设备研究所申请的专利一种箔条静电荷电特性测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116008684B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211558355.3,技术领域涉及:G01R29/24;该发明授权一种箔条静电荷电特性测试方法是由石国昌;李炜昕;廖意;谢兵;陈亚南设计研发完成,并于2022-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种箔条静电荷电特性测试方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种箔条静电荷电特性测试方法,其包含:步骤S1:搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统;步骤S2:根据箔条静电荷电特性试验系统,建立三维坐标系;步骤S3:箔条发射模块远程控制箔条弹发射,所述静电监测模块和辅助监测模块同步开展测试记录;步骤S4:测量获取箔条的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹;步骤S5:分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点;步骤S6:获取不同位置坐标下的静电场测试结果,建立位置坐标‑静电场矩阵;步骤S7:计算获取箔条的静电荷电特性。本发明可以直接获取箔条在发射后不同阶段的静电荷电量信息,为抗箔条干扰的性能分析提供数据。
本发明授权一种箔条静电荷电特性测试方法在权利要求书中公布了:1.一种箔条静电荷电特性测试方法,其特征在于,包括: 步骤S1:搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统; 所述试验系统包括:静电监测模块1,其设置在箔条100发射路径的下方,用于监测箔条100不同阶段的静电场信息;箔条发射模块2,用于控制箔条100发射,以模拟产生箔条100干扰设备的情况;辅助监测模块3,其设置在与所述静电监测模块1的相对一侧,用于监测箔条100发射后的扩散过程; 步骤S2:根据步骤S1搭建的箔条静电荷电特性试验系统,建立三维坐标系; 步骤S3:箔条发射模块2远程控制箔条弹发射,所述静电监测模块1和辅助监测模块3同步开展测试记录; 步骤S4:测量获取箔条100的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹; 步骤S5:分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点,并引入时间数据; 步骤S6:获取不同位置坐标下的静电场测试结果,建立位置坐标-静电场矩阵; 步骤S7:计算获取箔条的静电荷电特性。
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