大日本印刷株式会社铃木翔获国家专利权
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龙图腾网获悉大日本印刷株式会社申请的专利防反射构件、以及使用上述防反射构件的偏振片、图像显示装置和防反射性物品、以及防反射构件的选定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116057422B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180056486.9，技术领域涉及：G02B1/111；该发明授权防反射构件、以及使用上述防反射构件的偏振片、图像显示装置和防反射性物品、以及防反射构件的选定方法是由铃木翔;松田芳成;堀井笃;河北德明;远藤圭介设计研发完成，并于2021-07-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本防反射构件、以及使用上述防反射构件的偏振片、图像显示装置和防反射性物品、以及防反射构件的选定方法在说明书摘要公布了：提供一种能够改善耐擦伤性的防反射构件。一种防反射构件，其在透光性基材上具有包含粘结剂树脂和中空颗粒的低折射率层，并满足下述条件1。以上述透光性基材为基准在具有上述低折射率层的一侧的上述防反射构件的表面的5μm×5μm的区域中，实施标高的空间频率分析，由此计算出各波长的标高的功率谱强度。在计算出各波长的标高的功率谱强度的总和后，将上述总和标准化为1时，波长1.25μm下的标高的功率谱强度P1显示出0.015以上。
本发明授权防反射构件、以及使用上述防反射构件的偏振片、图像显示装置和防反射性物品、以及防反射构件的选定方法在权利要求书中公布了：1.一种防反射构件，其为在透光性基材上具有包含粘结剂树脂和中空颗粒的低折射率层的防反射构件，其满足下述条件1， 条件1 以所述透光性基材为基准在具有所述低折射率层的一侧的所述防反射构件的表面的5μm×5μm的区域中，实施标高的空间频率分析，由此计算出各波长的标高的功率谱强度，在计算出全部测定波长的标高的功率谱强度的总和后，将所述总和标准化为1，将相对于标准化为1的标高的功率谱强度的总和的、波长1.25μm下的标高的功率谱强度定义为P1时，P1显示出0.015以上， 所述标高是指低折射率层侧的表面的标高， 所述低折射率层侧的表面的标高是指，以透光性基材为基准具有低折射率层的一侧的防反射构件的表面上的任意点P与具有上述表面的平均高度的假想平面M的、在防反射构件的法线V的方向上的直线距离。
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