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龙图腾网获悉之江实验室;浙江大学申请的专利利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116625965B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310615053.3，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统及方法是由匡翠方;高秀君;王权;张祖鑫;张嘉晨;丁晨良设计研发完成，并于2023-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统及方法在说明书摘要公布了：利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统及方法，包括飞秒激光器、分束镜、声光调制器、全反镜、超连续谱产生套件、连续激光器、电控位移台、二向色镜、反射式物镜、凸透镜、单色仪、光电倍增管、锁相放大器、滤光片、光纤光谱仪和计算机等部件。在探测部分利用反射式物镜替换凸透镜汇聚激发光和收集信号光，提高飞秒泵浦–探测技术空间分辨精度。本发明是利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测系统，用于分析连续激光对样品激发态弛豫过程的影响，提供对复杂超快光物理行为的进一步理解，进而优化材料设计方案。

本发明授权利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.利用二次扰动激光的飞秒泵浦–探测微区测量系统，其特征在于：包括激光产生及调节部分Ⅰ、探测部分Ⅱ和接收部分Ⅲ； 所述激光产生及调节部分Ⅰ包括飞秒激光器1和连续激光器6；所述飞秒激光器1出射的激光束经过分束镜Ⅰ2分为两束，其中，反射的一束为第一光束B1，透射的一束为第二光束B2；所述连续激光器6出射的第三光束B3经声光调制器Ⅱ7、电控位移台Ⅰ8、全反镜Ⅱ9与经声光调制器Ⅰ3的第一光束B1，在二向色镜Ⅰ10合束为第四光束B4；第二光束B2经全反镜Ⅰ4、超连续谱产生套件5，与经电控位移台Ⅱ12、全反镜Ⅲ11的第四光束B4，在二向色镜Ⅱ13处合束为第五光束B5； 所述探测部分Ⅱ包括第五光束B5，所述第五光束B5经全反镜Ⅳ14、二向色镜Ⅲ15、反射式物镜16汇聚到样品台17夹持的样品，产生的信号光为第六光束B6；第六光束B6经反射式物镜16收集、二向色镜Ⅲ15反射进入接收部分Ⅲ； 所述接收部分Ⅲ包括第六光束B6，所述第六光束B6经分束镜Ⅱ18分为第七光束B7和第八光束B8；第七光束B7经凸透镜Ⅰ19、单色仪20、光电倍增管21和锁相放大器22与计算机27端口相连；第八光束B8经滤光片24、凸透镜Ⅱ25和光纤光谱仪26与计算机27端口相连； 第一光束B1经声光调制器Ⅰ3进行时域调制作为泵浦光； 第二光束B2经超连续谱产生套件5产生超连续谱作为探测光； 第三光束B3经声光调制器Ⅱ7进行时域调制作为二次扰动激光； 经过调制的泵浦光通过反射式物镜汇聚激发待测样品，使样品分子从基态激发到激发态； 二次扰动激光与泵浦光合束，再对激发态分子进行二次扰动，得到二次扰动飞秒泵浦–探测信号光。

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