武汉光谷卓越科技股份有限公司曹民获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉光谷卓越科技股份有限公司申请的专利基于精密三维的车辙分类方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116778251B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310810881.2,技术领域涉及:G06V10/764;该发明授权基于精密三维的车辙分类方法是由曹民;林红;周会鸿;高超;操丽设计研发完成,并于2023-07-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于精密三维的车辙分类方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于精密三维的车辙分类方法,包括:获取路面高程数据和路面灰度数据;基于所述路面高程数据和路面灰度数据,获取车道范围内的横断面控制轮廓;获取所述横断面控制轮廓的上包络线,并结合所述横断面控制轮廓,获取横断面理想控制轮廓;基于所述横断面控制轮廓和横断面理想控制轮廓对横断面进行变形区域划分,得到多个横断面变形区域;基于所述横断面控制轮廓、横断面理想控制轮廓和多个横断面变形区域,获取横断面变形区域参数;基于所述多个横断面变形区域参数对车辙进行分类。用以解决现有技术中难以区分车辙类别的缺陷,实现对车辙的准确分类。
本发明授权基于精密三维的车辙分类方法在权利要求书中公布了:1.一种基于精密三维的车辙分类方法,其特征在于,包括: 获取路面高程数据和路面灰度数据; 基于所述路面高程数据和路面灰度数据,获取车道范围内的横断面控制轮廓; 获取所述横断面控制轮廓的上包络线,并结合所述横断面控制轮廓,获取横断面理想控制轮廓; 所述获取所述横断面控制轮廓的上包络线,并结合所述横断面控制轮廓,获取横断面理想控制轮廓,包括: 获取所述横断面控制轮廓的上包络线;基于所述横断面控制轮廓和横断面控制轮廓的上包络线,获取横断面左右两端未磨损区域的代表横坐标位置和代表高程值;基于所述横断面左右两端未磨损区域的代表横坐标位置和代表高程值,获取所述横断面的理想控制轮廓; 所述基于所述横断面控制轮廓和横断面控制轮廓的上包络线,获取横断面左右两端未磨损区域的代表横坐标位置和代表高程值,包括: 按照预设步长将所述横断面控制轮廓划分为多个子段;对任一字段,计算所述横断面控制轮廓中所述子段的所有点到所述上包络线的平均绝对距离;选取平均绝对距离小于预设距离的n个子段,通过线性拟合计算n个子段中各个子段的方向;基于n个子段中各个子段的方向,获取未磨损区域的子段代表方向;在横断面左端的多个子段中,获取与所述子路段代表方向最相似的子段作为左端未磨损区域,并将所述左端未磨损区域对应的横断面控制轮廓的均值作为左端未磨损区域的代表高程值,将所述左端未磨损区域对应的道路幅宽方向的横坐标均值作为左端未磨损区域的代表横坐标位置;在横断面右端的多个子段中,获取与所述子路段代表方向最相似的子段作为右端未磨损区域,并将所述右端未磨损区域对应的横断面控制轮廓的均值作为右端未磨损区域的代表高程值,将所述右端未磨损区域对应的道路幅宽方向的均值作为右端未磨损区域的代表横坐标位置; 所述基于所述横断面左右两端未磨损区域的代表横坐标位置和代表高程值,获取所述横断面的理想控制轮廓,包括:将所述左端未磨损区域对应的代表横坐标位置和代表高程值作为左端点,将所述右端未磨损区域对应的代表横坐标位置和代表高程值作为右端点;连接所述左端点和右端点,并将连线作为所述横断面理想控制轮廓; 基于所述横断面控制轮廓和横断面理想控制轮廓对横断面进行变形区域划分,得到多个横断面变形区域; 基于所述横断面控制轮廓、横断面理想控制轮廓和多个横断面变形区域,获取横断面变形区域参数; 基于所述多个横断面变形区域参数对车辙进行分类。
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